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龙图腾网获悉中山大学申请的专利一种基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120848010B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511373578.6，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权一种基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪设计方法是由马雨飞;徐政基;张树斌设计研发完成，并于2025-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪设计方法，其涉及光学器件技术领域。包括：在锗光子晶体薄膜内刻蚀多个超晶格，并将每个所述超晶格设置为四个原子方晶格，得到简并保护连续域束缚态DP‑BIC的超晶格；在每个所述原子方晶格内刻设一个纳米孔；对于每个超晶格，将该超晶格中任意一个纳米孔的基态半径缩减为原基态半径的一半，将该超晶格由连续域束缚态BIC转变为准连续域束缚态q‑BIC；在石英基底上方敷设锗光子晶体薄膜，设计基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪。本发明显著增强了准连续域束缚态的超晶格对入射角变化的鲁棒性，实现了偏振无关的远场特性。

本发明授权一种基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪设计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪设计方法，其特征在于，包括： 在锗光子晶体薄膜内刻蚀多个超晶格，并将每个所述超晶格设置为四个原子方晶格，以引发第一布里渊区的二次折叠并将单原子方晶格的束缚态迁移至该超晶格的高对称点，得到简并保护连续域束缚态DP-BIC的超晶格；处于简并保护连续域束缚态DP-BIC的所述超晶格在高对称点处形成简并的横电模式和横磁模式且任意偏振方向的入射光均激发相同频率的准连续域束缚态共振峰； 在每个所述原子方晶格内刻设一个纳米孔；对于每个超晶格，将该超晶格中任意一个纳米孔的基态半径缩减为原基态半径的一半，以向该超晶格施加面内扰动，将该超晶格由连续域束缚态BIC转变为准连续域束缚态q-BIC；处于准连续域束缚态q-BIC的所述超晶格在设定入射角范围内输出同一频率的光学响应； 在石英基底上方敷设具有简并保护连续域束缚态DP-BIC和准连续域束缚态q-BIC的超晶格的锗光子晶体薄膜，设计基于BIC的角度无关全偏振微型光谱仪。

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