中国人民解放军总医院第一医学中心孙国臣获国家专利权
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龙图腾网获悉中国人民解放军总医院第一医学中心申请的专利用于对两个颅内操作器械实施导航的方法及导航系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119837638B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510336063.2,技术领域涉及:A61B34/20;该发明授权用于对两个颅内操作器械实施导航的方法及导航系统是由孙国臣;束旭俊;吴东东;赵恺;周星宇;丛小钧设计研发完成,并于2025-03-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于对两个颅内操作器械实施导航的方法及导航系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于对两个颅内操作器械实施导航的方法及导航系统,所述方法包括:获取解剖图像;在解剖图像中标记出手术路径;基于利用光学导航设备获取的第一光学跟踪器在光学坐标系中的位姿以及在解剖图像的图像坐标系中的位姿而将解剖图像在光学坐标系中配准;利用光学导航设备获取第二光学跟踪器在光学坐标系中的位姿,基于利用光学导航设备获取第三光学跟踪器在光学坐标系中的位姿、磁场发生器与第三光学跟踪器的位姿关系、第一电磁传感器相对于磁场发生器的位姿而得到第一电磁传感器在光学坐标系中的位姿;对第一电磁传感器的位姿进行校准;获得第一器械在光学坐标系中的位姿以及第二器械在光学坐标系中经校准的位姿。
本发明授权用于对两个颅内操作器械实施导航的方法及导航系统在权利要求书中公布了:1.一种用于对两个颅内操作器械实施导航的方法,两个操作器械包括第一器械和第二器械,其特征在于,第一光学跟踪器附接于手术部位,第二光学跟踪器和第一电磁传感器以确定的位姿关系分别附接于第一、第二器械,第三光学跟踪器与磁场发生器具有确定的位姿关系,第一器械对颅内组织的潜在伤害大于第二器械对颅内组织的潜在伤害,所述方法包括: 获取描述手术部位的解剖结构的解剖图像; 在解剖图像中标记出目标靶区、颅入口、以及手术路径; 利用光学导航设备获取第一光学跟踪器在光学坐标系中的位姿,基于第一光学跟踪器在光学坐标系中的位姿以及在解剖图像的图像坐标系中的位姿而将解剖图像在光学坐标系中配准; 利用光学导航设备获取第二、第三光学跟踪器在光学坐标系中的位姿以及利用电磁导航设备获取第一电磁传感器相对于磁场发生器的位姿,基于第三光学跟踪器在光学坐标系中的位姿、磁场发生器与第三光学跟踪器的位姿关系、第一电磁传感器相对于磁场发生器的位姿而得到第一电磁传感器在光学坐标系中的位姿; 对第一电磁传感器的位姿进行校准; 基于第二光学跟踪器与第一器械的位姿关系以及第一电磁传感器与第二器械的位姿关系而得到第一器械在光学坐标系中的位姿以及第二器械在光学坐标系中经校准的位姿,并将第一器械和第二器械在解剖图像中可视化; 第一器械与第二器械能够以刚性地且可分离地方式附接,且在附接状态下,第一器械与第二器械具有确定的位姿关系; 所述的对第一电磁传感器的位姿进行校准包括: 基于附接状态下的第一器械与第二器械的位姿关系而得到第一电磁传感器相对于第二光学跟踪器的位姿; 将基于附接状态下的第一电磁传感器相对于第二光学跟踪器的位姿以及经光学导航设备所获取的第二光学跟踪器在光学坐标系中的位姿所得到的第一电磁传感器在光学坐标系中的位姿作为基准位姿; 将基于附接状态下的经光学导航设备所获取的第三光学跟踪器在光学坐标系中的位姿、磁场发生器与第三光学跟踪器的位姿关系、经电磁导航设备所获取的第一电磁传感器相对于磁场发生器的位姿所得到的第一电磁传感器在光学坐标系中的位姿作为待校位姿; 基于第一电磁传感器的待校位姿与基准位姿而得到校准矩阵,利用校准矩阵对第一电磁传感器在光学坐标系中的位姿进行校准; 将第二电磁传感器布置于手术部位或手术部位的附近区域; 所述的对第一电磁传感器的位姿进行校准包括: 将基于第一光学跟踪器或第二光学跟踪器在光学坐标系中的位姿所得到的第二电磁传感器在光学坐标系中的位姿作为第二电磁传感器的基准位姿; 将基于磁场发生器在光学坐标系中的位姿以及经电磁导航设备所获取的第二电磁传感器相对于磁场发生器的位姿所得到的第二电磁传感器在光学坐标系中的位姿作为第二电磁传感器的待校位姿; 将基于磁场发生器在光学坐标系中的位姿以及经电磁导航设备所获取的第一电磁传感器相对于磁场发生器的位姿所得到的第一电磁传感器在光学坐标系的位姿作为第一电磁传感器的待校位姿; 基于第二电磁传感器的待校位姿与基准位姿而得到校准矩阵,利用校准矩阵对第一电磁传感器的待校位姿进行校准; 第二电磁传感器以与第二光学跟踪器形成确定的位姿关系的方式附接于第一器械的远端区域,第一电磁传感器附接于第二器械的远端区域; 基于第二光学跟踪器在光学坐标系中的位姿而得到第二电磁传感器在光学坐标系中的基准位姿包括: 基于经光学导航设备所获取第二光学跟踪器在光学坐标系中的位姿以及第二电磁传感器与第二光学跟踪器的位姿关系而得到第二电磁传感器在光学坐标系中的基准位姿。
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