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龙图腾网获悉成都佰维存储科技有限公司申请的专利RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119964627B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510082269.7，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备是由孙成思;何瀚;王灿;周建波设计研发完成，并于2025-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据RAID纠错能力的基础测试请求对SSD顺序写入测试数据，并从已写测试数据的逻辑地址中选择一目标逻辑地址，使用第一接口查询目标逻辑地址在闪存上的物理地址以及物理地址所在的RAID条带的纠错区域位置和纠错区域范围信息，根据纠错区域位置使用第一接口查询纠错区域的所有数据单元的第一状态，并根据纠错区域范围信息使用第二接口对纠错区域的至少一个数据单元注入UNC，从SSD中读取数据，并根据纠错区域位置使用第一接口查询纠错区域的所有数据单元的第二状态，根据顺序写入的测试数据、读取到的数据、第一状态和第二状态得到第一测试结果，从而提高了测试的精准性和效率。

本发明授权RAID功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种RAID功能测试方法，其特征在于，包括步骤： 若接收的针对固态硬盘的测试请求包括RAID纠错能力的基础测试请求，则对所述固态硬盘顺序写第一预设大小的测试数据，并从所述固态硬盘已写所述测试数据的逻辑地址中选择一目标逻辑地址； 使用RAID纠错能力测试接口中的第一接口查询所述目标逻辑地址在闪存上的物理地址以及所述物理地址所在的RAID条带的纠错区域位置和纠错区域范围信息； 根据所述纠错区域位置使用所述RAID纠错能力测试接口中的第一接口查询纠错区域的所有数据单元的第一状态，并根据所述纠错区域范围信息使用所述RAID纠错能力测试接口中的第二接口对纠错区域的至少一个数据单元注入非校验读取错误； 从所述固态硬盘中读取数据，并根据所述纠错区域位置使用所述RAID纠错能力测试接口中的第一接口查询纠错区域的所有数据单元的第二状态； 根据顺序写入的测试数据、读取到的数据、所述第一状态和所述第二状态得到与所述基础测试请求对应的第一测试结果； 若接收的针对固态硬盘的测试请求包括RAID纠错成功后风险块数据搬移和异常处理的进阶测试请求，则根据所述进阶测试请求使用第一接口获取所述固态硬盘的RAID配置相关信息以及第一RAID纠错情况； 对所述固态硬盘顺序写第二预设大小的测试数据； 从所述固态硬盘中随机选择一块，并根据所述块的逻辑地址使用第一接口获取所述逻辑地址在闪存上的第一物理地址； 根据所述第一物理地址使用第二接口对所述块注入非校验读取错误； 顺序读所述固态硬盘中的数据； 使用第一接口获取所述固态硬盘的第二RAID纠错情况，并等待所述块被执行垃圾回收； 使用第一接口获取所述逻辑地址在闪存上的第二物理地址； 基于所述第一物理地址、所述第二物理地址、所述第一RAID纠错情况和所述第二RAID纠错情况确定与所述进阶测试请求对应的第二测试结果。

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