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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利单光子探测器性能评估方法、装置、计算机设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120043630B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510247669.9，技术领域涉及：G01J1/44；该发明授权单光子探测器性能评估方法、装置、计算机设备和介质是由陆健婷;柳月波;赖灿雄;廖文渊;李树旺;路国光设计研发完成，并于2025-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本单光子探测器性能评估方法、装置、计算机设备和介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种单光子探测器性能评估方法、装置、计算机设备和介质。所述方法包括：将待测探测器接入性能测试电路中，以搭建性能测试环境；根据待测探测器的预设工作电压范围，对性能测试环境中的待测探测器施加电压，以使待测探测器处于工作状态，并采用待测探测器的各性能退化参数对应的采样频率，分别对待测探测器的电量参数进行采样，得到各性能退化参数对应的电量时间序列；各性能退化参数至少包括暗电流参数、击穿电压参数和噪声参数；根据各性能退化参数对应的电量时间序列，确定各性能退化参数对应的评估指标值；根据各性能退化参数对应的评估指标值，对待测探测器的性能退化情况进行评估。采用本方法能够准确对探测器的性能进行评估。

本发明授权单光子探测器性能评估方法、装置、计算机设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种单光子探测器性能评估方法，其特征在于，所述方法包括： 将待测探测器接入性能测试电路中，以搭建性能测试环境；其中，所述待测探测器为单光子探测器； 根据所述待测探测器的预设工作电压范围，对所述性能测试环境中的待测探测器施加电压，以使所述待测探测器处于工作状态； 在所述待测探测器处于工作状态的情况下，采用所述待测探测器的各性能退化参数对应的采样频率，分别对所述待测探测器的电量参数进行采样，得到各性能退化参数对应的电量时间序列；其中，所述电量参数包括流经所述待测探测器的电流和所述待测探测器两端的电压；各性能退化参数至少包括暗电流参数、击穿电压参数和噪声参数； 根据各性能退化参数对应的电量时间序列，确定各性能退化参数对应的评估指标值；其中，所述暗电流参数对应的评估指标值包括暗电流值、接地故障电流值和短路瞬时电流值，所述击穿电压参数对应的评估指标值包括击穿电压值，所述噪声参数对应的评估指标值包括噪声值； 根据各性能退化参数对应的评估指标值，对所述待测探测器的性能退化情况进行评估。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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