上海中科飞测半导体科技有限公司张鹏斌获国家专利权
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龙图腾网获悉上海中科飞测半导体科技有限公司申请的专利一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120088229B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510200799.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质是由张鹏斌;韩欣;杨坚;齐鑫;陈鲁设计研发完成，并于2025-02-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质，所述方法包括：获取透射图像及反射图像；分别将透射图像及反射图像输入图像轮廓提取模型中，得到透射图像及反射图像的轮廓图像；其中，图像轮廓提取模型预先利用多张透射图像、反射图像以及两者的轮廓图进行训练好；将生成的透射图像的轮廓图像及反射图像的轮廓图像进行匹配，得到轮廓匹配坐标点；基于轮廓匹配坐标点，将透射图像和反射图像进行匹配；计算透射图像与反射图像上各个像素点的像素值相加，得到合成图像；通过将合成图像上各个像素点的像素值与阈值进行对比，确定出缺陷像素点及其位置坐标。
本发明授权一种缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取透射图像以及反射图像； 分别将所述透射图像以及所述反射图像，输入预先训练好的图像轮廓提取模型中，得到所述透射图像的轮廓图像以及所述反射图像的轮廓图像；其中，所述图像轮廓提取模型预先利用多张透射图像及其轮廓图以及多张反射图像及其轮廓图进行训练好； 将所述透射图像的轮廓图像与所述反射图像的轮廓图像进行匹配，得到轮廓匹配坐标点； 基于所述轮廓匹配坐标点，将所述透射图像以及所述反射图像进行匹配； 计算所述透射图像上的各个像素点的像素值与所述反射图像上匹配的各个像素点的像素值进行相加，得到合成图像； 通过将所述合成图像上各个像素点的像素值与阈值进行对比，确定出缺陷像素点及其位置坐标。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海中科飞测半导体科技有限公司，其通讯地址为：200000 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区玉宇路1068号、飞渡路1568号、天高路1111号6幢；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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