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龙图腾网获悉西刻标识设备(上海)有限公司申请的专利激光划刻控制方法、电子设备、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120619649B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511128350.0，技术领域涉及：B23K26/70；该发明授权激光划刻控制方法、电子设备、存储介质及程序产品是由朱植文;程雪峰;彭浩设计研发完成，并于2025-08-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本激光划刻控制方法、电子设备、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种激光划刻控制方法、电子设备、存储介质及程序产品，获取目标工件的第一图像，根据第一图像，确定目标工件的工件信息以及目标工件上的目标路径；根据工件信息，控制激光发射组件沿目标路径在镀层上进行划线；获取目标工件的第二图像，根据第二图像，确定镀层上划线的质量检测结果；在划线的质量检测结果为不满足划线要求的情况下，控制激光发射组件沿目标路径再次划线，直至划线的质量检测结果为满足划线要求。通过实时监测划线结果，结合划线结果进行重复划线，提高最终划线结果的精度；且后续重复划线作为第一次划线的补充，可以适当的减小第一次划线的功率，以避免损坏基底，提高划线的成功率。

本发明授权激光划刻控制方法、电子设备、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种激光划刻控制方法，其特征在于，所述方法包括： 获取目标工件的第一图像，根据所述第一图像，确定所述目标工件的工件信息以及所述目标工件上的目标路径，所述工件信息包括目标工件的工件形状、基底材质、镀层材质以及镀层厚度； 根据所述工件信息，控制激光发射组件沿所述目标路径在所述目标工件的镀层上进行划线； 获取所述目标工件的第二图像，根据所述第二图像，确定所述镀层上划线的质量检测结果； 在所述划线的质量检测结果为不满足划线要求的情况下，控制所述激光发射组件沿所述目标路径再次划线，直至所述划线的质量检测结果为满足所述划线要求； 其中，所述根据所述第二图像，确定所述镀层上划线的质量检测结果，包括： 根据所述第二图像，识别所述镀层上划线的深度； 将所述划线中连续、且深度在同一深度等级内的线段作为一个子线段；根据每一子线段对应的深度等级，确定每一子线段的质量检测结果； 根据所有子线段的质量检测结果，确定所述划线的质量检测结果； 所述控制所述激光发射组件沿所述目标路径再次划线，包括： 根据所述划线中每一子线段的深度等级，更新每一子线段对应的工作参数； 基于每一子线段对应的新的工作参数，控制所述激光发射组件在每一子线段处重新划线。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西刻标识设备(上海)有限公司，其通讯地址为：201206 上海市浦东新区(上海)自由贸易试验区金藏路258号第4幢通用厂房601室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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