苏州元脑智能科技有限公司郭毅获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120724257B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511164107.4，技术领域涉及：G06F18/241；该发明授权电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品是由郭毅设计研发完成，并于2025-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品，可以应用于深度学习和光学检测技术领域。该评估方法包括：对电路板的多模态信息进行融合、对齐处理，得到电路板的融合特征和指示电路板工艺状态的状态信息，其中，多模态信息包括电路板的图像、点云信息和工艺信息，工艺信息包括电路板中目标点位处的多个工艺参数；基于融合特征和状态信息确定电路板的缺陷特征；根据缺陷特征和用于缺陷特征的评估条件信息，得到电路板的缺陷评估结果，其中，评估条件信息由状态信息确定。
本发明授权电路板的评估方法、电子设备、存储介质和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种电路板的评估方法，其特征在于，所述方法包括： 对电路板的多模态信息进行融合、对齐处理，得到所述电路板的融合特征和指示电路板工艺状态的状态信息，其中，所述多模态信息包括所述电路板的图像、点云信息和工艺信息，所述工艺信息包括所述电路板中目标点位处的多个工艺参数，所述状态信息通过如下方式得到：将所述工艺信息中的时刻信息与所述电路板的标识信息的组合信息作为索引；基于所述索引和所述工艺参数的类型信息对所述多个工艺参数进行插值或重采样，得到多个中间工艺参数；基于所述电路板进入检测工位的参考时刻，从所述多个中间工艺参数中确定目标工艺参数，作为所述状态信息，所述工艺参数包括回流温度、锡膏厚度、位置偏移、机械压力和湿度状态； 基于所述融合特征和所述状态信息确定所述电路板的缺陷特征； 根据所述缺陷特征和用于所述缺陷特征的评估条件信息，得到所述电路板的缺陷评估结果，其中，所述评估条件信息由所述状态信息确定。
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