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龙图腾网获悉西北工业大学申请的专利一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120741435B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511231860.0，技术领域涉及：G01N21/71；该发明授权一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法是由罗明;熊世磊;崔敏超;王渊彬;马楠;杨凯棋设计研发完成，并于2025-09-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法，包括：获取待测样品和两个标准样品的LIBS光谱数据；从LIBS光谱数据中获取待测样品和两个标准样品的待测元素的多条特征谱线数据；根据特征谱线数据计算第二标准样品的谱线强度校正因子；根据第二标准样品的谱线强度校正因子计算待测样品的特征谱线理论强度；根据第一标准样品的实际谱线强度和待测样品的特征谱线理论强度建立校正曲线；根据校正曲线计算待测样品的待测元素含量。本发明通过采用双标样多谱线校正算法，可以显著提高单点多谱线校正方法定量分析的准确度，同时弥补了免定标激光诱导击穿光谱算法计算过程繁琐的缺点。

本发明授权一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法在权利要求书中公布了：1.一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法，其特征在于，包括： 获取待测样品和两个标准样品的LIBS光谱数据； 从所述LIBS光谱数据中获取所述待测样品和两个所述标准样品的待测元素的多条特征谱线数据； 根据所述特征谱线数据计算第二标准样品的谱线强度校正因子； 以第一标准样品的谱线强度为基准计算所述第二标准样品对应的理论谱线强度； 根据所述第二标准样品对应的理论谱线强度和所述第二标准样品的多条所述特征谱线数据的实际强度的差值计算所述第二标准样品的多条特征谱线的所述谱线强度校正因子； 根据所述第二标准样品的谱线强度校正因子计算待测样品的特征谱线理论强度； 根据第一标准样品的实际谱线强度和所述待测样品的特征谱线理论强度建立校正曲线； 根据所述校正曲线计算所述待测样品的待测元素含量； 选取标样b为第一标准样品，选取标样a为第二标准样品，以b此刻的等离子体温度T为基准，那么标样a选取的不同波长的谱线理论光谱强度便可表示为： 其中，其中是样品a中物质的浓度，是样品b中物质的浓度，x可取1、2、3、…； 那么选取标样a波长为λx的实际光谱与理论光谱之间的差距可表示为： 那么依据第二标准样品a计算的各个波长的多条谱线强度校正因子便可表示为： 其中，x可取1、2、3、…； 那么待测选取待测样品c中各个谱线理论光谱强度便可表示为： 以标样b中选取的实际谱线强度作为横坐标，以待测样品c理论谱线强度作为纵坐标，建立校正曲线，那么斜率便是K，则公式可改写为： 那么待测样品某种元素的含量： 。

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