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龙图腾网获悉海美格磁石技术(深圳)有限公司申请的专利一种永磁体缺陷检测方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120741479B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511135655.4，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种永磁体缺陷检测方法、装置、设备及介质是由曾庆林;张继铭;易国银设计研发完成，并于2025-08-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种永磁体缺陷检测方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种永磁体缺陷检测方法、装置、设备及介质，包括以下步骤：获取目标永磁体的目标端的检测图像；其中，目标端为目标永磁体具有永磁块的一端；根据检测图像，获取第一缺陷特征值；其中，第一缺陷特征值用于表征胶层厚度均匀性缺陷程度；判断第一缺陷特征值是否大于预设的第一阈值；若是，则将目标永磁体标记为第一类缺陷品，若否，则获取目标永磁体的目标端的深度图像；根据深度图像，获取第二缺陷特征值；其中，第二缺陷特征值用于表征胶层凸出或凹陷的程度；判断第二缺陷特征值是否大于预设的第二阈值；若是，则将目标永磁体标记为第二类缺陷品，若否，则将目标永磁体标记合格品，本申请具有提高了对永磁体缺陷检测精度的优点。

本发明授权一种永磁体缺陷检测方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种永磁体缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取目标永磁体的目标端的检测图像；其中，目标永磁体包括磁环主体，磁环主体中心内置有内芯，磁环主体一侧开设有多个围绕内芯呈环形阵列分布的凹槽，凹槽内通过胶层固定设置有永磁块，目标端为目标永磁体具有永磁块的一端； 根据检测图像，获取第一缺陷特征值；其中，第一缺陷特征值用于表征胶层厚度均匀性缺陷程度；包括：获取检测图像中每个永磁块偏离理论位置的偏离角度θ；获取第一最大值，并判断第一最大值是否大于预设的偏角阈值；其中，第一最大值为若干个偏离角度θ中的最大值；若是，则将第一最大值输出为第一缺陷特征值；若否，则获取综合所有具有偏离特征的永磁体的偏离特征评价值；将偏离特征评价值输出为第一缺陷特征值；其中，获取检测图像中每个永磁块偏离理论位置的偏离角度θ，包括：识别检测图像中的凹槽轮廓；基于凹槽轮廓构建第一对称线；其中，凹槽轮廓基于第一对称线对称，第一对称线穿过磁环主体的圆形轮廓中心；识别位于凹槽轮廓内的对应永磁块轮廓；将永磁块轮廓中互相对称的两特征角点连线，以获得辅助线；基于辅助线的中点构建第二对称线；其中，第二对称线与辅助线互相垂直，永磁块轮廓基于第二对称线对称；将第二对称线与第一对称线的夹角输出为偏离角度θ；获取综合所有具有偏离特征的永磁体的偏离特征评价值，包括：获取若干个偏离角度θ的偏角平均值θ'；获取具有偏离特征的永磁体数量n1；根据偏角平均值θ'和具有偏离特征的永磁体数量n1，获取偏离特征评价值Q1；其中，Q1=K1·n1·θ'，K1为第一调节系数； 判断第一缺陷特征值是否大于预设的第一阈值； 若是，则将目标永磁体标记为第一类缺陷品，若否，则获取目标永磁体的目标端的深度图像； 根据深度图像，获取第二缺陷特征值；其中，第二缺陷特征值用于表征胶层凸出或凹陷的程度； 判断第二缺陷特征值是否大于预设的第二阈值； 若是，则将目标永磁体标记为第二类缺陷品，若否，则将目标永磁体标记合格品。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人海美格磁石技术(深圳)有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市宝安区松岗街道沙浦社区广进路35号厂房一101；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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