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龙图腾网获悉东莞市华盾电子科技有限公司申请的专利一种用于X光安检的物品图像数据采集方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120852722B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511331869.9，技术领域涉及：G06V10/10；该发明授权一种用于X光安检的物品图像数据采集方法及系统是由陆国鹏;庞兴强;张伟森;林伟杰设计研发完成，并于2025-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于X光安检的物品图像数据采集方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种用于X光安检的物品图像数据采集方法及系统；方法包括：对于任一像素点构建观测窗口，获取观测窗口中像素点对应的结构一致性的一致水平，将观测窗口中结构一致性的最大值与一致水平之间的差值作为差异值，将反正切函数对差异值处理后的结果作为结构异常显著指数；基于结构异常显著指数优化CLAHE算法中的初始对比度限制因子，获取自适应对比度限制因子，其中自适应对比度限制因子与像素点的结构异常显著指数成反比；基于自适应对比度限制因子使用CLAHE算法对安检物品图像进行增强。本申请具有提高安检物品后续识别准确度的效果。

本发明授权一种用于X光安检的物品图像数据采集方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于X光安检的物品图像数据采集方法，其特征在于，包括：获取经过预处理的安检物品图像；对于任一像素点，基于图像频域分析技术使用不同尺度的卷积核在不同的方向上对安检物品图像进行卷积，获取像素点在不同方向上的能量幅值和相位；基于各尺度的卷积核对应的多个方向下的能量幅值和相位计算反映像素点所在局部区域纹理复杂程度的结构一致性，包括：对于任一像素点，基于像素点在同一尺度下不同卷积方向的能量幅值和相位计算同尺度响应幅值，将多个尺度下的同尺度响应幅值的和作为总响应幅值，基于像素点在不同尺度卷积核、不同卷积方向下的复数响应值构建复数响应矩阵；将总响应幅值与复数响应矩阵中复数响应值的模的香农熵的比值作为结构一致性；计算同尺度响应幅值包括：对于任一尺度的卷积核，将不同卷积方向上的能量幅值的和作为总能量；该尺度卷积核在不同卷积方向上的相位的和作为总相位；总能量与总相位的平方和作为同尺度响应幅值； 对于任一像素点构建观测窗口，获取观测窗口中像素点对应的结构一致性的一致水平，将观测窗口中结构一致性的最大值与一致水平之间的差值作为差异值，将反正切函数对差异值处理后的结果作为结构异常显著指数； 基于结构异常显著指数优化CLAHE算法中的初始对比度限制因子，获取自适应对比度限制因子，其中自适应对比度限制因子与像素点的结构异常显著指数成反比；基于自适应对比度限制因子使用CLAHE算法对安检物品图像进行增强。

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