上海北臻电子科技有限公司龚健获国家专利权
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龙图腾网获悉上海北臻电子科技有限公司申请的专利一种微电子元器件老化试验插座获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223597715U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422783829.5，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种微电子元器件老化试验插座是由龚健设计研发完成，并于2024-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种微电子元器件老化试验插座在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种微电子元器件老化试验插座，涉及到老化测试设备技术领域，包括老化箱，所述老化箱的下方设置有活动座，所述活动座的两侧中部均开设有放置槽。本实用新型通过在老化箱的下方设置活动座，活动座的两侧中部均设置有放置槽，待检测的电子元器件可以放入放置槽内，通过在放置槽的槽口处设置固定框，固定框的两侧均设置有插槽，插槽内设置有插板，插板的一端设置有压板，通过在老化箱的下方设置压块，活动座在带动电子元器件上升并使其进入老化箱的过程中，压块与压板配合可以带动插板运动，以使得插板将电子元器件夹紧固定，在实现了电子元器件快速放入老化箱的过程中保证了其在检测过程中的稳定性。
本实用新型一种微电子元器件老化试验插座在权利要求书中公布了：1.一种微电子元器件老化试验插座，包括老化箱1，其特征在于：所述老化箱1的下方设置有活动座2，所述活动座2的两侧中部均开设有放置槽3，所述放置槽3的槽口处固定设置有固定框4，所述固定框4的两侧中部均开设有插槽5，所述插槽5设置为倾斜结构，且插槽5的内部设置有插板6，所述插板6的一端与固定框4的内侧壁平行，所述插板6的另一端固定设置有压板7，且压板7设置于活动座2的上方，所述老化箱1的底端中部贯穿开设有通槽8，所述通槽8的槽口处两侧均固定设置有压块9，且压块9与压板7的位置相对应。
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