上海华岭集成电路技术股份有限公司邵嘉阳获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华岭集成电路技术股份有限公司申请的专利半导体器件的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114582748B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210204743.5，技术领域涉及：H01L21/66；该发明授权半导体器件的测试方法是由邵嘉阳;凌俭波;王华;王辉设计研发完成，并于2022-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体器件的测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种半导体器件的测试方法，包括：编写测试程式，一个测试程式包含一个UID号池，一个UID号池被一个测试程式调用，并且，同一型号的的半导体器件调用的测试程式相同；将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。
本发明授权半导体器件的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件的测试方法，用于在半导体测试过程中，将UID写入半导体器件，其特征在于，包括： 编写测试程式，一个所述测试程式包含一个UID号池，一个所述UID号池被一个测试程式调用，并且，同一批次的半导体器件调用的测试程式相同； 将一个所述UID号池分为若干个UID号段；以及 将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。
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