株式会社爱安德菅野将弘获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社爱安德申请的专利水分计、水分计的状态诊断方法及记录介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114599953B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080072572.4，技术领域涉及：G01N5/04；该发明授权水分计、水分计的状态诊断方法及记录介质是由菅野将弘;长根吉一设计研发完成，并于2020-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本水分计、水分计的状态诊断方法及记录介质在说明书摘要公布了：水分计100具备：质量测量部2，计测试料的质量；加热部3，将试料加热；控制运算部5，控制加热部3以加热直到试料的质量变化为规定的阈值以下，并根据加热前后的试料的质量变化计算试料的水分率；以及存储部8；控制运算部5具备：标准物质测量部52a，以通过以规定的温度加热而在任意的质量下都呈现固定的理论水分率的检查用的标准物质为试料，执行多次水分率的测量；标准偏差计算部52c，计算在多次测量中的实测水分率的标准偏差；以及状态诊断部52d，将实测水分率与存储在存储部中的标准物质的理论水分率比较，评价质量测量部2有无异常，并且判断标准偏差是否为规定值以下来评价设置环境的影响。
本发明授权水分计、水分计的状态诊断方法及记录介质在权利要求书中公布了：1.一种水分计，其特征在于， 具备： 质量测量部，计测载置在称量皿上的试料的质量； 加热部，将上述试料加热； 控制运算部，控制上述加热部以加热直到上述试料的质量变化成为规定的阈值以下，根据加热前后的上述试料的质量变化计算上述试料的水分率；以及 存储部； 上述控制运算部具备： 标准物质测量部，以通过在规定的温度下加热而在任意的质量下都显示固定的理论水分率的检查用的标准物质为上述试料，执行多次水分率的测量； 标准偏差计算部，计算在上述多次测量中的实测水分率的标准偏差； 平均水分率计算部，将上述多次测量中的实测水分率取平均来计算平均水分率；以及 状态诊断部，将上述平均水分率与存储在上述存储部中的上述标准物质的理论水分率进行比较来评价上述质量测量部有无异常，并且判断上述标准偏差是否是规定值以下来评价设置环境的影响。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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