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龙图腾网获悉北京振兴计量测试研究所申请的专利一种二极管内部结构的剥露方法和检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115728336B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111021578.1，技术领域涉及：G01N23/2251；该发明授权一种二极管内部结构的剥露方法和检查方法是由李兴鲁;王志林;闫玉波设计研发完成，并于2021-09-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种二极管内部结构的剥露方法和检查方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种二极管内部结构的剥露方法和检查方法，属于二极管结构分析技术领域，解决了现有技术中螺栓安装二极管或轴向引线金属外壳二极管无法采用金属圆帽器件开封机剥露内部结构以供检查的问题。该剥露方法包括如下步骤：提供横向样品和纵向样品；获取横向样品和纵向样品的外部结构信息和内部结构信息；确定横向样品的横向开封剖面和开封夹持面以及纵向样品的纵向研磨剖面，并在横向样品上标记横向开封剖面，在纵向样品上标记纵向研磨剖面；对横向样品进行横向机械开封，剥露横向样品的横向结构；对纵向样品进行纵向研磨，剥露纵向样品的纵向结构。本发明二极管内部结构的剥露方法和检查方法可用于二极管内部结构的剥露和检查。

本发明授权一种二极管内部结构的剥露方法和检查方法在权利要求书中公布了：1.一种二极管内部结构的剥露方法，其特征在于，所述二极管为螺栓安装二极管或轴向引线金属外壳二极管，所述剥露方法包括如下步骤： 步骤1：提供三个二极管样品，一个二极管样品作为横向样品，一个二极管样品作为纵向样品，剩余的一个二极管样品作为比对样品； 步骤2：获取横向样品、纵向样品和比对样品的外部结构信息和内部结构信息； 步骤3：根据横向样品、纵向样品和比对样品的外部结构信息和内部结构信息，确定横向样品的横向开封剖面和开封夹持面、纵向样品的纵向研磨剖面以及比对样品的横向开封剖面、开封夹持面和纵向研磨剖面，并在横向样品上标记横向开封剖面，在纵向样品上标记纵向研磨剖面，在比对样品上标记横向开封剖面和纵向研磨剖面； 步骤4：对横向样品进行横向机械开封，剥露横向样品的横向结构；对纵向样品进行纵向研磨，剥露纵向样品的纵向结构； 对比对样品进行横向机械开封，剥露横向样品的横向结构，获得第一横向部和第二横向部，并获取第一横向部的横向结构图和第二横向部的横向结构图；分别对第一横向部和第二横向部进行纵向研磨，得到第一纵向部和第二纵向部，将第一纵向部和第二纵向部拼接获取拼接纵向结构图； 步骤5：对比横向样品的横向结构与第一横向部的横向结构图或第二横向部的横向结构图，判断横向样品的横向结构的一致性； 对比纵向样品的纵向结构与拼接纵向结构图，判断纵向样品的纵向结构的一致性； 所述横向开封剖面位于颈缩机械连接端的下方且高于芯片的下表面； 所述纵向研磨剖面贯穿纵向样品的过芯片中心的轴线，并与芯片的其中一组边平行； 所述步骤4中，对横向样品进行横向机械开封，包括如下步骤： 步骤41：固定横向样品； 步骤42：沿横向开封剖面作往复切割，吃劲变空后立即松开，松开横向样品，沿圆周顺时针或逆时针向下旋转60°，再次固定横向样品； 步骤43：重复步骤42，直至横向开封剖面被完全切开，将切开后的两部分沿横向样品的轴线方向分离，剥露横向样品的横向结构，完成横向机械开封； 所述步骤4中，对纵向样品进行纵向研磨，包括如下步骤： 步骤41’：将纵向样品灌封于灌装材料内； 步骤42’：沿平行于纵轴线的方向，纵向研磨至纵向研磨剖面，剥露纵向样品的纵向结构并抛光，完成纵向研磨，在纵向研磨过程中，当纵向样品的外壳被研磨透，立即将灌装材料灌入纵向样品的空腔内，对外壳进行支撑，对内部结构进行保护，避免纵向样品在纵向研磨过程中发生壳体崩坏变形挤压内部结构。

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