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龙图腾网获悉杭州博日科技股份有限公司申请的专利基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115731219B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211522674.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备是由石昌荣;赵云鹏;高琪;杨智;叶雷;贺贤汉设计研发完成，并于2022-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备，涉及微滴识别领域，首先确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；待判定图像包括多个待判定微滴；然后将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配；再将第一支撑柱区域投影至待判定图像中，得到待判定图像对应的第二支撑柱区域；最后将与第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的待判定微滴判定为异常微滴；该方法利用芯片支撑柱图像与待判定图像进行配准并标记出芯片支撑柱的位置，并将支撑柱周围的微滴判定为异常微滴，从而避免将支撑柱之外区域的游离微滴误判为异常微滴，解决了现有技术中由于游离微滴误判导致的微滴识别精度较差的问题。

本发明授权基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种基于几何位置的异常微滴判定方法，其特征在于，所述方法包括： 确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，所述芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；所述待判定图像包括多个待判定微滴； 将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行图像匹配； 将所述芯片支撑柱图像中的所述第一支撑柱区域投影至所述待判定图像中，得到所述待判定图像对应的第二支撑柱区域； 将与所述第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的所述待判定微滴判定为异常微滴； 将所述芯片支撑柱图像中的所述第一支撑柱区域投影至所述待判定图像中，得到所述待判定图像对应的第二支撑柱区域的步骤，包括： 将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行叠加，并按照预设步长将所述芯片支撑柱图像在所述待判定图像上进行平移变换； 遍历所有的所述平移变换，并计算所有所述平移变换中所述第一支撑柱区域与所述待判定图像对应的叠加区域的像素值之和； 选取所述像素值之和最小的所述平移变换，并按照所述平移变换将所述第一支撑柱区域投影至所述待判定图像中得到所述第二支撑柱区域； 将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行叠加之前，所述方法还包括： 将所述芯片支撑柱图像进行二值化处理； 判断所述芯片支撑柱图像中所述第一支撑柱区域的像素值是否为0； 如果否，则将所述芯片支撑柱图像进行取反处理。

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