暨南大学关贺元获国家专利权
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龙图腾网获悉暨南大学申请的专利一种利用SPR增强非线性效应的光学相位检测方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115752761B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211360803.9，技术领域涉及：G01J9/02；该发明授权一种利用SPR增强非线性效应的光学相位检测方法与装置是由关贺元;隋展;章灏然;林云;陈炳羽;卢惠辉;丘文涛;陈哲;杨铁锋;张子龙设计研发完成，并于2022-11-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用SPR增强非线性效应的光学相位检测方法与装置在说明书摘要公布了：一种利用SPR增强非线性效应的光学相位检测方法及装置，方法包括，不同相位的相干光束形成干涉，产生基频光干涉条纹图像；以共振角入射到斜面镀有金膜的Kretschmann结构，激发表面等离子体共振，减小反射光强度，提高非线性转换效应；滤除反射光中基频光，采集高次谐波的干涉条纹图像或功率数据进行干涉鉴相。本发明将相位差信息转换为光学非线性信息，并采用表面等离子体共振进行非线性效应的增强，完成对非线性效应的增强，相位检测能力被二次方和三次方放大，达到增强干涉图像亮纹与暗纹的对比度、提升了相位测量的精度与分辨率。
本发明授权一种利用SPR增强非线性效应的光学相位检测方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种利用SPR增强非线性效应的光学相位检测方法，其特征在于，包含步骤如下： 步骤一：不同相位的相干光束形成干涉，产生基频光干涉条纹图像； 步骤二：以共振角入射到斜面镀有金膜的棱镜，通过Kretschmann结构激发表面等离子体共振，同时产生二次和三次谐波，减小反射光强度，提升非线性转换效应； 步骤三1：滤除反射光中基频光，采集高次谐波的干涉条纹图像进行干涉鉴相； 步骤三2：滤除反射光中基频光，采集高次谐波的光功率大小进行相位检测； 步骤四：通过高次谐波的干涉条纹图像或光功率数据，计算得到相位差值，实现高灵敏度、高分辨率的相位测量。
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