买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院;安徽工业技术创新研究院六安院申请的专利一种基于EBSD数据快速分析材料各向异性因子分布的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115901823B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211300511.6，技术领域涉及：G01N23/203；该发明授权一种基于EBSD数据快速分析材料各向异性因子分布的方法是由孙孟;刘雪晴;蒋卫斌;王先平;方前锋设计研发完成，并于2022-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于EBSD数据快速分析材料各向异性因子分布的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于EBSD数据快速分析材料各向异性因子分布的方法，S1：利用电子背散射衍射仪采集样品待分析区域的背散射衍射花样并提取获得原始衍射花样数据；S2：将所述原始衍射花样数据通过预设模型基于取向预设过程进行处理，获得待分析区域各向异性因子的分布和统计信息。本发明属于材料结构分析技术领域，具体涉及一种基于EBSD数据快速分析材料特定范围内各向异性因子分布的方法。该方法填补了基于EBSD数据在各向异性因子分析方面的空白，同时有益于对材料模量、阻尼、以及磁致伸缩等性能的初步评估。

本发明授权一种基于EBSD数据快速分析材料各向异性因子分布的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于EBSD数据快速分析材料各向异性因子分布的方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：利用电子背散射衍射仪采集样品待分析区域的背散射衍射花样并提取获得原始衍射花样数据，原始衍射花样数据为对应相子集或者区域子集的数据点坐标X,Y和Euler指数φ1、Φ、φ2； S2：将所述原始衍射花样数据通过预设模型基于取向预设过程进行处理，获得待分析区域各向异性因子的分布和统计信息；具体为： S201：读取原始衍射花样数据，并形成基于所有所述原始衍射花样数据的数据点扫描区域； S202：执行扫描区域的数据点的计算过程，从第一个数据点开始至最后一个数据点结束，并基于G矩阵将扫描区域原始衍射花样的Euler指数数据转变为米勒指数数据； S203：提取扫描区域内所有的米勒指数数据，并设定分析取向和各向异性参考轴； S204：根据米勒指数数据与参考轴的方位，计算出扫描区域内所有位置与三个参考轴方向的余弦值，分别为cosα，cosβ，cosγ，并根据各向异性因子公式Γ=cos2α*cos2β+cos2β*cos2γ+cos2γ*cos2α，计算出扫描区域内所有位点的一维各向异性因子； S205：将得到的所述一维各向异性因子数据转化为三维矩阵数据； S206：对所述三维矩阵数据的坐标进行分割后形成各向异性因子分布图，通过EBSD对未识别区域进行扫描后的空白处理，同时根据各向异性因子的分布图的分割后的平均值形成各向异性因子分布数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院合肥物质科学研究院;安徽工业技术创新研究院六安院，其通讯地址为：230031 安徽省合肥市董铺岛；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。