广州众诺电子技术有限公司吴仕英获国家专利权
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龙图腾网获悉广州众诺电子技术有限公司申请的专利安全检测方法、芯片及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115906084B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211536998.8，技术领域涉及：G06F21/56；该发明授权安全检测方法、芯片及电子设备是由吴仕英设计研发完成，并于2022-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本安全检测方法、芯片及电子设备在说明书摘要公布了：本发明实施例提供一种安全检测方法、芯片及电子设备，涉及硬件信息安全技术领域。该方法用于对芯片进行检测，芯片的顶层具有面积不同的多个金属区域，各金属区域互不导通；该方法包括：获取各所述金属区域的待检测参数，判断各所述金属区域的待检测参数是否符合预设函数，若符合，则确定所述芯片未遭到入侵式攻击，若不符合，则确定所述芯片遭到入侵式攻击。本发明实施例解决了现有芯片有源物理层保护方案容易被入侵者探测更底层的信号线，芯片安全性不高的问题。
本发明授权安全检测方法、芯片及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种安全检测方法，其特征在于，用于对芯片进行检测，所述芯片的顶层具有面积不同的多个金属区域，各所述金属区域互不导通； 所述方法包括： 获取各所述金属区域的待检测参数； 判断各所述金属区域的待检测参数是否符合预设函数，所述预设函数用于描述所述金属区域的区域物理参数之间的关系； 若符合，则确定所述芯片未遭到入侵式攻击； 若不符合，则确定所述芯片遭到入侵式攻击； 所述判断各所述金属区域的待检测参数是否符合预设函数的步骤，包括： 在获取预设数量所述待检测参数的情况下，针对每预设数量个连续获取的所述待检测参数，根据所述预设数量个所述待检测参数的获取顺序，依次将所述预设数量个所述待检测参数分别作为第一坐标值、第二坐标值、第三坐标值、......、第N坐标值，以得到待检测坐标；其中，预设数量为N，N为大于1的自然数，所述预设数量不大于各所述金属区域的数量； 判断所述待检测坐标是否符合所述预设函数，以确定所述芯片是否遭到入侵式攻击。
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