北京中科镭特电子有限公司;中国电子科技集团公司第十三研究所李纪东获国家专利权
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龙图腾网获悉北京中科镭特电子有限公司;中国电子科技集团公司第十三研究所申请的专利激光划片测高方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116038142B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210755469.0，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权激光划片测高方法是由李纪东;易飞跃;杨顺凯;李保第;张力江;闫荟羽设计研发完成，并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本激光划片测高方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种激光划片测高方法，包括：控制水平运动平台在水平平面内运动，其中，所述水平运动平台在水平平面内的运动过程至少包括加速阶段和减速阶段；在水平运动平台开始运动时，控制测高仪开始以预定的周期采样，以使测高仪至少在加速阶段和减速阶段的其中之一获得测量目标在多个位置的高度数据；对所述测高仪获得的高度数据进行函数逼近处理，以获得所述高度数据与运动坐标所构成的函数；依据激光划片的加工坐标，在所述函数上确定测量目标的高度。本发明提供的激光划片测高方法，能够在水平运动平台的运动全过程进行测量，有利于提高激光划片的效率和精度。
本发明授权激光划片测高方法在权利要求书中公布了：1.一种激光划片测高方法，其特征在于，包括： 控制水平运动平台在水平平面内运动，其中，所述水平运动平台在水平平面内的运动过程至少包括加速阶段和减速阶段； 在水平运动平台开始运动时，控制测高仪开始以预定的周期采样，以使测高仪至少在加速阶段和减速阶段的其中之一获得测量目标在多个位置的高度数据； 对所述测高仪获得的高度数据进行函数逼近处理，以获得所述高度数据与运动坐标所构成的函数； 依据激光划片的加工坐标，在所述函数上确定测量目标的高度； 对所述测高仪获得的高度数据进行函数逼近处理之前，还包括： 对获得的高度数据对应的运动坐标间隔进行比较； 当连续多个高度数据对应的运动坐标间隔为递增关系时，确定所述连续多个高度数据为加速阶段获得的高度数据； 当连续多个高度数据对应的运动坐标间隔为递减关系时，确定所述连续多个高度数据为减速阶段获得的高度数据。
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