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龙图腾网获悉上海维安半导体有限公司申请的专利一种电子元器件的浪涌电流测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116165470B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310212252.X，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种电子元器件的浪涌电流测试电路是由连秉政;彭国建;王宁斌;郭建军;苏海伟设计研发完成，并于2023-03-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元器件的浪涌电流测试电路在说明书摘要公布了：本发明提供一种电子元器件的浪涌电流测试电路，包括：主降压待测单元，待测元器件通过第一限流电阻、隔离变压器连接供电端；交流采样单元，用于对高压交流电进行分压采样；正弦波整形单元，用于对采样信号进行正弦波整形处理并输出过零方波信号；按键消抖单元，连接按键单元，包括第一定时模块和第二定时模块；延时单元，分别连接正弦波整形单元和按键消抖单元；短脉冲产生单元，连接延时单元；驱动测试单元，连接短脉冲产生单元，驱动测试单元包括驱动器和受控开关，受控开关连接待测元器件。有益效果：通过逻辑门电路实现纯硬件逻辑触发功能，无需外购复杂的测试设备，仅用示波器，交流电源等基础设施即可进行器件特性验证。

本发明授权一种电子元器件的浪涌电流测试电路在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件的浪涌电流测试电路，其特征在于，包括： 一主降压待测单元，包括隔离变压器，所述隔离变压器的原边连接一供电端，所述隔离变压器的副边通过一第一限流电阻连接一待测元器件，所述隔离变压器的原边和副边分别并联一旁路负载； 一交流采样单元，连接于所述供电端和接地端之间，用于在所述供电端上电后对高压交流电进行分压采样，得到一采样信号； 一正弦波整形单元，连接所述交流采样单元，用于对所述采样信号进行正弦波整形处理，并输出一过零方波信号； 一按键单元，用于根据一外部控制下输出一按键信号； 一按键消抖单元，包括第一定时模块，连接所述按键单元；第二定时模块，连接所述第一定时模块，用于对所述按键信号进行延迟消抖处理，得到一使能信号； 一延时单元，分别连接所述正弦波整形单元和所述按键消抖单元，用于在所述使能信号的作用下使能所述延时单元，所述延时单元对所述过零方波信号进行延时处理，并开始进行周期计数； 一短脉冲产生单元，连接所述延时单元，用于根据延迟后的所述过零方波信号处理得到一短脉冲触发信号； 一驱动测试单元，连接所述短脉冲产生单元，所述驱动测试单元包括一驱动器和一受控开关，所述受控开关连接所述待测元器件，所述驱动器根据所述短脉冲触发信号输出一驱动信号，以驱动所述受控开关导通，所述待测元器件承受周期电流，以完成所述待测元器件的浪涌测试。

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