北京理工大学易凯军获国家专利权
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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利力电耦合准零刚度的隔振单胞和隔振装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116292732B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310232895.0，技术领域涉及：F16F15/00；该发明授权力电耦合准零刚度的隔振单胞和隔振装置是由易凯军;蒋守谦;朱睿设计研发完成，并于2023-05-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本力电耦合准零刚度的隔振单胞和隔振装置在说明书摘要公布了：本发明提供了一种力电耦合准零刚度的隔振单胞和隔振装置。该隔振单胞包括：中部的连接凸起；以所述连接凸起为中心，沿径向延伸的N根梁结构，该N根梁结构两两相互之间的角度为360°N，N≥2；其中，所述梁结构的上表面和下表面至少其中之一上固定有压电片，所述压电陶瓷纤维的实际厚度Hp'与所述梁结构的实际厚度T'满足特定的关系式，且该关系式与梁结构的跨高、压电陶瓷纤维的杨氏模量、压电陶瓷纤维的机电耦合系数、梁结构的杨氏模量有关。本发明可以在工作区域实现准零刚度，通过外接电路设计能够极大地抑制共振峰和主动调节刚度，在航空航天等领域重大装备减振降噪方面具有重要的应用前景。
本发明授权力电耦合准零刚度的隔振单胞和隔振装置在权利要求书中公布了：1.一种力电耦合准零刚度的隔振单胞，其特征在于，包括： 中部的连接凸起； 以所述连接凸起为中心，沿径向延伸的N根梁结构，该N根梁结构两两相互之间的角度为360°N，N≥2； 其中，所述梁结构的上表面和下表面至少其中之一上固定有压电片，所述压电片的实际厚度Hp'与所述梁结构的实际厚度T'满足： Hp'＝Hp；T≤T'≤1.1T或T'＝T；Hp≤Hp'≤1.2Hp 其中，Hp为压电片的理论厚度；T为梁结构的理论厚度；H为梁结构的跨高；Ep为压电片的杨氏模量；k31为压电片的机电耦合系数；E为梁结构的杨氏模量； 其中，所述压电片靠近所述连接凸起设置，其在所述梁结构上延伸的长度介于L5～L3之间，其中，所述梁结构的长度为L2。
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