上海伟测半导体科技股份有限公司李广东获国家专利权
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龙图腾网获悉上海伟测半导体科技股份有限公司申请的专利一种半导体测试设备用水平度验证装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223610849U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423087039.X，技术领域涉及：G01C9/00；该实用新型一种半导体测试设备用水平度验证装置是由李广东设计研发完成，并于2024-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体测试设备用水平度验证装置在说明书摘要公布了：本实用新型揭示了一种半导体测试设备用水平度验证装置，包括定位座和压敏块；所述定位座用于将所述压敏块定位安放在半导体测试设备的清洁盘中，以配合半导体测试设备的输送臂将所述压敏块送入测试夹具中，所述压敏块尺寸与测试夹具内腔相适配，所述压敏块包括底板以及压力测量胶片，所述压力测量胶片铺贴在所述底板一端面上。本实用新型提供的半导体测试设备用水平度验证装置，能够快速精准地对分选机和测试夹具进行水平度验证，相对于现有技术中多采用人工经验判断的方式，能够使技术人员更好地锁定问题所在，从而方便了技术人员能够及时精准地做出应对策略。
本实用新型一种半导体测试设备用水平度验证装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体测试设备用水平度验证装置，其特征在于，包括定位座和压敏块； 所述定位座用于将所述压敏块定位安放在分选机的清洁盘中，以配合分选机的测试臂将所述压敏块送入测试夹具中； 所述压敏块尺寸与测试夹具内腔相适配，所述压敏块包括底板以及压力测量胶片，所述压力测量胶片铺贴在所述底板一端面上。
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