河北工业大学白振旭获国家专利权
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龙图腾网获悉河北工业大学申请的专利一种应力双折射分析仪获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223610989U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-28发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520089243.0,技术领域涉及:G01L1/24;该实用新型一种应力双折射分析仪是由白振旭;高婉霄;丁洁;王坤;王雨雷;吕志伟设计研发完成,并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种应力双折射分析仪在说明书摘要公布了:一种应力双折射分析仪,涉及光学透明晶体的应力双折射测量技术。本实用新型的应力双折射分析仪,包括光源、聚焦透镜、偏振片、四分之一波片、晶体放置平台、变焦镜头及偏振相机;所述晶体放置平台用于放置待测晶体;所述光源发出的光依次经过聚焦透镜、偏振片和四分之一波片后,入射至所述待测晶体的前表面,经所述待测晶体透射后,再经所述变焦镜头聚焦并进入所述偏振相机。上述分析仪利用基于微偏振片的分焦平面式偏振相机进行应力双折射测试,不存在分光元件,不需要旋转偏振器,将测晶体放置在晶体放置平台即可瞬时给出测量结果,测量效率高。
本实用新型一种应力双折射分析仪在权利要求书中公布了:1.一种应力双折射分析仪,其特征在于,包括光源1、聚焦透镜2、偏振片3、四分之一波片4、晶体放置平台5、变焦镜头6及偏振相机7; 所述晶体放置平台5用于放置待测晶体8; 所述光源1发出的光依次经过聚焦透镜2、偏振片3和四分之一波片4后,入射至所述待测晶体8的前表面,经所述待测晶体8透射后,再经所述变焦镜头6聚焦并进入所述偏振相机7。
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