致真存储(北京)科技有限公司张丛获国家专利权
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龙图腾网获悉致真存储(北京)科技有限公司申请的专利一种MRAM存储器的刻蚀装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115274394B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210959093.5,技术领域涉及:H01J37/32;该发明授权一种MRAM存储器的刻蚀装置是由张丛;曹凯华;刘宏喜;王嘉毅;王戈飞设计研发完成,并于2022-08-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种MRAM存储器的刻蚀装置在说明书摘要公布了:本申请实施例公开了一种MRAM存储器的刻蚀装置,包括:离子源、中和器、载台,其中:中和器设置在所述离子源的出射口,所述载台设置在所述离子源出射的一侧,用于接收所述离子源出射的等离子体;所述载台的入射面端面之上包括:压环、至少一个电极,所述压环和所述至少一个电极均设置在所述载台的边缘,所述至少一个电极埋入所述压环内部或者所述压环外围;所述至少一个电极通过电线与射频发生器连接。通过在IBE刻蚀腔内调节载台角度,能够在同一腔室完成MRAM存储单元的刻蚀和侧壁清洗,便于进行多次切换。通过在载台边缘处埋入至少一个电极,并对至少一个电极分别施加功率控制,从而分区调节载台上的等离子体分布,提高刻蚀均匀性。
本发明授权一种MRAM存储器的刻蚀装置在权利要求书中公布了:1.一种MRAM存储器的刻蚀装置,其特征在于,所述装置包括:离子源、中和器、载台和功率分配器,其中: 所述离子源用于出射等离子体; 所述中和器设置在所述离子源的出射口,所述载台设置在所述离子源出射的一侧,用于接收所述离子源出射的等离子体; 通过调节所述中和器,使所述等离子体不完全中和,呈一定的电位; 所述载台的入射面端面之上包括:压环、至少一个电极,所述压环和所述至少一个电极均设置在所述载台的边缘,所述至少一个电极埋入所述压环内部或者所述压环外围; 所述至少一个电极通过电线与射频发生器连接; 所述功率分配器设置在所述至少一个电极和所述射频发生器之间,用于调节进入所述至少一个电极的电流,通过调节所述功率分配器的功率来调节对不同电极的施加的功率,根据电极中的电流改变电场,以使载台边缘区域的等离子体按照预设的状态进行分布。
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