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龙图腾网获悉苏州大学申请的专利太阳辐射下的材料升温功率测量系统及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115372413B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211001649.6，技术领域涉及：G01N27/00；该发明授权太阳辐射下的材料升温功率测量系统及测量方法是由詹耀辉;周玉晟;朱虹雨;王吉宁;荀浩轩;李孝峰设计研发完成，并于2022-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本太阳辐射下的材料升温功率测量系统及测量方法在说明书摘要公布了：本申请提出一种太阳辐射下的材料升温功率测量系统及测量方法。该测量系统包括装置盒，其顶部设置有镂空开口，装置盒内靠近顶部的镂空开口附近设置载物平台，载物平台用于放置待测测量升温材料；透光薄膜覆盖于装置盒顶部的镂空开口处，用于使装置盒内部形成密闭空间；冷却器设置于装置盒侧壁，用于调节装置盒内部的温度；温度探测器及冷却器通过线缆与通讯接口连接，通讯接口与控制器之间通过有线或者无线方式进行数据交换。维持装置盒内外温度一致条件下待测升温材料单位面积的冷却器消耗电功率即为材料的升温功率。此测量方式下的升温功率代表了材料在实际系统使用时的功率，更具有实际性、价值性。

本发明授权太阳辐射下的材料升温功率测量系统及测量方法在权利要求书中公布了：1.太阳辐射下的材料升温功率测量系统，包括：装置盒、控制器、冷却器、温度探测器、载物平台、通讯接口、透光薄膜；其特征在于： 装置盒的顶部设置有镂空开口，装置盒内靠近顶部的镂空开口附近设置载物平台，载物平台用于放置待测升温材料； 透光薄膜覆盖于装置盒顶部的镂空开口处，用于使装置盒内部形成密闭空间； 所述透光薄膜材质选用ZnSe、HfO2、CaF2、聚乙烯之一，所述透光薄膜具有从太阳波段到中红外波段都高通的特征，对可见光及红外波段均有较高的透过率，还可消除顶部空气热对流对待测材料的影响；所述温度探测器设有7个，其中一个所述温度探测器位于所述装置盒外部，用于检测环境温度；其中两个所述温度探测器位于所述载物平台背部，用于监测所述载物平台的温度；其余四个所述温度探测器分别位于所述装置盒内部的四周侧壁，用于检测所述装置盒内部密闭空间的温度；冷却器设置于装置盒侧壁，用于调节装置盒内部的温度； 温度探测器及冷却器分别通过线缆与通讯接口连接，所述通讯接口与所述控制器之间通过有线或者无线方式进行数据交换，以维持所述装置盒内外温度一致条件下，通过记录所述冷却器的消耗电功率来测量所述待测升温材料的升温功率。

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