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龙图腾网获悉深圳大普微电子科技有限公司申请的专利测试方法、系统及闪存设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115547395B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211060860.5，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权测试方法、系统及闪存设备是由胡凯文;石龙飞;陈明春设计研发完成，并于2022-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试方法、系统及闪存设备在说明书摘要公布了：本申请实施例涉及存储设备应用领域，公开了一种测试方法、系统及闪存设备，该方法包括：在主机对闪存设备完成第一测试之后，获取主机发送的写配置表命令，其中，写配置表命令包括配置表，配置表包括测试项目；将获取到的配置表写入到闪存设备的非易失性闪存；在闪存设备与主机断开连接并重新上电之后，启动自测试固件，并从非易失性闪存中读取配置表；解析读取到的配置表，获取配置表中的测试项目；根据获取到的配置表中的测试项目，对闪存设备进行第二测试，第二测试的测试时间大于第一测试的测试时间。通过上述方式，本申请实施例能够使第二测试脱离主机，仅需对闪存设备上电，由固件自己完成第二测试，从而降低测试成本并提高测试效率。

本发明授权测试方法、系统及闪存设备在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，其特征在于，应用于闪存设备，所述方法包括： 在主机对所述闪存设备完成第一测试之后，获取主机发送的写配置表命令，其中，所述写配置表命令包括配置表，所述配置表包括测试项目； 将获取到的所述配置表写入到所述闪存设备的非易失性闪存； 在闪存设备与主机断开连接并重新上电之后，启动自测试固件，并从所述非易失性闪存中读取所述配置表； 解析读取到的所述配置表，获取所述配置表中的测试项目； 根据获取到的所述配置表中的测试项目，对所述闪存设备进行第二测试，其中，所述第二测试的测试时间大于所述第一测试的测试时间； 在获取到主机发送的写配置表命令之后，所述方法还包括： 对所述写配置表命令对应的配置表进行校验，具体包括： 对所述写配置表命令对应的配置表进行CRC校验，确定第一校验结果； 所述方法还包括： 判断所述第一校验结果是否匹配预设的校验值； 若所述第一校验结果匹配预设的校验值，则将所述配置表写入到所述闪存设备的非易失性闪存，并向主机返回写成功信息； 若所述第一校验结果不匹配预设的校验值，则向主机返回写失败信息。

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