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龙图腾网获悉清华大学申请的专利矿石品位分析方法、装置、设备、存储介质和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115753841B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211496758.X，技术领域涉及：G01N23/00；该发明授权矿石品位分析方法、装置、设备、存储介质和程序产品是由杨祎罡;崔桐源设计研发完成，并于2022-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本矿石品位分析方法、装置、设备、存储介质和程序产品在说明书摘要公布了：本申请涉及一种矿石品位分析方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：当目标区域未放置矿石样品、在目标区域的第一位置与第二位置设置有第一射线源时，确定第一位置的第一探测效率和第二位置的第二探测效率，当目标区域放置有矿石样品且在第一位置设置有第一参考片时，根据第一探测效率确定第二射线源的注量率，当目标区域放置有矿石样品且在第二位置设置有第二参考片时，根据注量率确定第二参考片在第二位置的第三探测效率，根据第二探测效率、第三探测效率以及矿石样品的目标射线计数值，确定矿石样品的品位分析结果。采用本方法能够提高得到的矿石品位的准确性。

本发明授权矿石品位分析方法、装置、设备、存储介质和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种矿石品位分析方法，其特征在于，所述方法包括： 当目标区域未放置矿石样品、在所述目标区域的第一位置与第二位置设置有第一射线源时，确定所述第一位置的第一探测效率和所述第二位置的第二探测效率；所述第一位置与所述第二位置相对设置，所述第一位置位于所述目标区域靠近探测器的一侧，所述第二位置位于所述目标区域远离探测器的一侧；其中，在所述目标区域未放置所述矿石样品和所述目标区域放置有所述矿石样品的两种情况下，所述第一位置与所述探测器之间的介质不发生变化；在所述目标区域放置有所述矿石样品的情况下，所述第二位置与所述探测器之间的介质发生改变； 当所述目标区域放置有所述矿石样品且在所述第一位置设置有第一参考片时，根据所述第一探测效率确定第二射线源的注量率；所述第二射线源用于激发所述第一参考片释放目标射线； 当所述目标区域放置有所述矿石样品且在所述第二位置设置有第二参考片时，根据所述注量率确定所述第二参考片在所述第二位置的第三探测效率； 根据所述第二探测效率、所述第三探测效率以及所述矿石样品的目标射线计数值，确定所述矿石样品的品位分析结果。

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