中国电子科技集团公司第二十六研究所王强获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第二十六研究所申请的专利闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115856990B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211440982.7,技术领域涉及:G01T7/00;该发明授权闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法是由王强;丁雨憧;张泽涛;屈菁菁;王明皓;万前银;胡吉海;刘军;李金;甘禹;石自彬;徐扬设计研发完成,并于2022-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法,本测试系统将X射线源发射的X射线通过X射线准直器进入待测闪烁晶体阵列发出闪烁光,闪烁光进入光电二极管阵列探测器,通过数据读出系统和数据采集系统到达控制系统,进入上位机,在X射线照射稳定的情况下通过测试计算每个像素的光输出数据获得待测闪烁晶体阵列的光产额和一致性,X射线挡块在滑轨上快速滑动将X射线准直器的狭缝挡住,实现X射线快速斩断,斩断时间≤1ms,测试斩断后的光输出值随时间变化的情况,计算得到闪烁晶体阵列各像素的余辉值。本发明在有效提高短余辉闪烁晶体阵列余辉的准确性时,同时实现了闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性同时测试。
本发明授权闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种闪烁晶体阵列光产额、余辉、一致性测试系统,其特征在于,包括屏蔽箱体、控制系统、与控制系统通信连接的上位机,在屏蔽箱体侧面开设有缺口并在缺口上安装有舱门;在屏蔽箱体内部分别设有光电二级管阵列探测器和X射线源,其中X射线源位于光电二级管阵列探测器正上方,X射线源用于发射X射线并使X射线进入待测闪烁晶体阵列以发出闪烁光,光电二级管阵列探测器用于接收待测闪烁晶体阵列发出的闪烁光并转换为电流信号;在X射线源与光电二级管阵列探测器之间设有X射线斩断装置,用于快速斩断X射线;光电二级管阵列探测器的输出连接有数据读出系统,用于读取电流信号,并存储为数字信号;数据读出系统的输出连接有数据采集系统,用于采集数字信号并进行数据处理向控制系统转发;控制系统用于接收数据采集系统输入数据并向上位机转发; 上位机,用于接收控制系统发送的数据,并实时显示光产额、余辉、一致性数值; 所述X射线快速斩断装置包括X射线准直器,用于将X射线源发射的X射线进行准直,使X射线路径为一条狭缝;在X射线准直器下方横向设有与狭缝垂直的滑轨,滑轨上滑动设有X射线挡块并通过电机驱动X射线挡块快速移动,用于快速斩断X射线,电机的输入与控制系统的输出连接; 余辉At和一致性U计算公式分别为: 式中,Pi为闪烁晶体阵列中第i个像素的光产额值;Pa为闪烁晶体阵列中所有像素Pi的平均值;Po为无X射线照射时每个像素的光产额本底值;Pt为X射线斩断t毫秒后的光产额值。
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