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龙图腾网获悉南瑞联研半导体有限责任公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院申请的专利一种IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116400187B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310515717.9，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路和方法是由董志意;胡小刚;韩华春;李群;李强设计研发完成，并于2023-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路和方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路和方法，该电路包括：PWM控制单元；HTGB测试回路和HTRB测试回路组成的互锁检测单元；其中，所述PWM控制单元与所述互锁检测单元连接，用于控制所述互锁检测单元中的HTGB测试回路和HTRB测试回路自动进行互锁测试；所述互锁检测单元，用于对IGBT器件进行HTGB和HTRB互锁检测，得到IGBT器件的栅极‑发射极漏电流或集电极‑发射极漏电流。本发明提供的IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路和方法，既实现了HTGB测试和HTRB测试的自动检测，也在被考核器件漏电流过大时，保护了被考核器件器件，并且减少了设备冗余，简化了测试流程，降低了成本。

本发明授权一种IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路和方法在权利要求书中公布了：1.一种IGBT器件的漏电可靠性自动检测电路，其特征在于，包括：PWM控制单元；HTGB测试回路和HTRB测试回路组成的互锁检测单元； 其中，所述PWM控制单元与所述互锁检测单元连接，用于控制所述互锁检测单元中的HTGB测试回路和HTRB测试回路自动进行互锁测试； 所述互锁检测单元，用于对IGBT器件进行HTGB和HTRB互锁检测，得到IGBT器件的栅极-发射极漏电流或集电极-发射极漏电流； 还包括漏电流采集单元； 所述漏电流采集单元分别与所述PWM控制单元和所述互锁检测单元连接，用于从所述互锁检测单元获取IGBT器件的栅极-发射极漏电流，并输出至所述PWM控制单元； 所述PWM控制单元在所述IGBT器件的栅极-发射极漏电流低于预设值时，控制所述互锁检测单元中的HTGB测试回路和HTRB测试回路自动进行互锁测试； 所述PWM控制单元在所述IGBT器件的栅极-发射极漏电流高于预设值时，控制所述互锁检测单元中的HTGB测试回路停止工作。

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