海光云芯集成电路设计(上海)有限公司董浩获国家专利权
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龙图腾网获悉海光云芯集成电路设计(上海)有限公司申请的专利一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117540699B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311572008.0，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质是由董浩设计研发完成，并于2023-11-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明实施例公开一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片验证领域，能够有效提高异常芯片判定的准确性。所述方法包括：对第一晶圆上第一芯片的第一引脚，依次施加至少两个检测输入值，得到对应的检测输出值；基于所述检测输出值及预设异常判定规则确定所述第一芯片是否异常，其中，所述预设异常判定规则包含多个异常判定条件，当多个异常判定条件中任一条件满足时，判定第一芯片为异常芯片。本发明适用于芯片验证。
本发明授权一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种判定异常芯片的方法，其特征在于，包括： 对第一晶圆上第一芯片的第一引脚，依次施加至少两个检测输入值，得到对应的检测输出值； 基于所述检测输出值及预设异常判定规则确定所述第一芯片是否异常，其中，所述预设异常判定规则包含多个异常判定条件，当多个异常判定条件中任一条件满足时，判定第一芯片为异常芯片； 在对所述第一晶圆上的第一芯片进行异常检测之后，所述方法还包括： 判断当前已对所述第一晶圆上进行异常检测的芯片的数量，是否达到预设芯片数量阈值； 若达到预设芯片数量阈值，则基于所述第一晶圆上已检测的芯片的检测输出值，更新所述预设异常判定规则中的至少一个异常判定条件，得到更新后的异常判定规则； 基于更新后的异常判定规则，对所述第一晶圆上的剩余未检测芯片进行异常检测。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人海光云芯集成电路设计(上海)有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区自由贸易试验区春晓路289号501、502室(名义楼层为6楼)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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