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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种为μK级温度传感器分辨率测试提供测试环境的结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118624064B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410663591.4，技术领域涉及：G01K15/00；该发明授权一种为μK级温度传感器分辨率测试提供测试环境的结构是由周泽兵;鄢星宇;陈慧;屈少波设计研发完成，并于2024-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种为μK级温度传感器分辨率测试提供测试环境的结构在说明书摘要公布了：本申请公开了一种为μK级温度传感器分辨率测试提供测试环境的结构，包括隔热固定层、内层金属层、隔热填充层和中间金属层，隔热填充层、中间金属层和内层金属层的厚度通过频域固体傅里叶导热定律计算确定；隔热填充层用于隔绝环境温度波动；中间金属层用于利用金属材料的高导热特性，将环境温度波动在传导在内层金属层之前进行均一化；内层金属层的内部开设有槽，待测试μK级温度传感器中的测温探头及导线安装在槽内并用导热膏填充测温探头及导线与内层金属层的间隙，用于为μK级温度传感器提供稳定均一的亚μK级温度波动环境。本申请能为μK级温度传感器分辨率测试提供亚μK级温度波动环境，便于μK级温度传感器分辨率的准确测试。

本发明授权一种为μK级温度传感器分辨率测试提供测试环境的结构在权利要求书中公布了：1.一种为μK级温度传感器分辨率测试提供测试环境的结构，其特征在于，包括套设的隔热固定层和内层金属层，隔热固定层和内层金属层之间嵌套叠加设有若干个隔热填充层和中间金属层； 所述隔热填充层用于利用低导热材料的隔热特性，隔绝环境温度波动；所述中间金属层用于利用金属材料的高导热特性，将环境温度波动在传导至内层金属层之前进行均一化；所述内层金属层的内部开设有槽，待测试μK级温度传感器中的测温探头及导线安装在槽内，并用导热膏填充所述测温探头及导线与内层金属层的间隙，内层金属层用于利用金属材料的高导热特性，为μK级温度传感器提供稳定均一的亚μK级温度波动环境；所述隔热填充层、中间金属层和内层金属层的厚度通过频域固体傅里叶导热定律计算确定； 其中，所述导线在结构内缠绕的长度通过对环境漏热分析和空气对流分析确定； 所述隔热填充层、中间金属层和内层金属层的厚度的计算方式为：基于频域傅里叶导热定律求解包含各层材料物性及尺寸的传热方程；然后基于该传热方程获得环境温度与内层金属层温度之间的传递函数；在保证传递函数幅值低于设定值的情况下，计算得到满足隔热需求的隔热填充层的厚度，以及满足均温需求的中间金属层和内层金属层的厚度。

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