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龙图腾网获悉广东工业大学申请的专利结构化光投影图像干扰点识别去除方法、基于结构光投影的三维重建方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119323529B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411359301.3，技术领域涉及：G06T5/70；该发明授权结构化光投影图像干扰点识别去除方法、基于结构光投影的三维重建方法及系统是由雷景然;周金运;王红卫设计研发完成，并于2024-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本结构化光投影图像干扰点识别去除方法、基于结构光投影的三维重建方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提出一种结构化光投影图像干扰点识别去除方法、基于结构光投影的三维重建方法及系统，涉及数字图像处理的技术领域，在本发明提出的干扰点识别去除方法中，通过训练干扰点识别模型，利用干扰点识别模型来识别干扰点，相较于阈值设置的方式，识别速度快，精度更高，并且以覆盖操作去除干扰点，填补原本干扰点位置的空白，有利于提高后续三维重建的精度，便于对目标物体的精细研究。本发明所提出的三维重建方法及系统，提高了对目标物体特征分析的精确性，适用于物体表面精细度要求高的领域或目标物体的使用测量，可以避免接触式测量对目标物体造成的损坏。

本发明授权结构化光投影图像干扰点识别去除方法、基于结构光投影的三维重建方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种结构化光投影图像干扰点识别去除方法，其特征在于，包括以下步骤： S1:获取结构化光投影样本图像，所述结构化光投影样本图像中包括干扰点，对干扰点进行标签标注； S2:利用标签标注后的结构化光投影样本图像训练干扰点识别模型，得到训练好的干扰点识别模型； S3:获取待识别目标物体的结构化光条纹表面图像； S4:将待识别结构化光投影图像输入至训练好的干扰点识别模型，输出待识别结构化光投影图像的标签信息，从而识别干扰点； S5:分析待识别结构化光投影图像除干扰点之外的正常区域的特征数据，基于正常区域的特征数据，对干扰点进行覆盖操作，去除干扰点； 所述的特征数据为：某一像素点x,y处的水平方向梯度、垂直方向梯度和像素值；对所述正常区域的特征数据进行提取，提取过程满足： 其中，，，分别表示像素点x,y处的水平方向梯度、垂直方向梯度和像素值；基于正常区域的特征数据，对干扰点进行覆盖操作，去除干扰点的过程包括： 设干扰点像素为xh,yl，将干扰点像素的上、下、左、右邻域的四个点的像素值xh-1,yl、xh+1,yl、xh,yl-1、xh,yl+1分别提取； 以上、下、左、右邻域四个点的像素值中的列像素的平均值作为干扰点像素的列像素，将以上、下、左、右邻域四个点的像素值中的行像素的平均值作为干扰点像素的行像素，对干扰点的像素值进行覆盖，去除干扰点。

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