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龙图腾网获悉东莞市德普特电子有限公司申请的专利一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119509348B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411543748.6，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法是由仇泽军;梁健城;周芳青;董海飞;唐国华设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及LCD模组检测技术领域，尤其是指一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法，其包括以下步骤：图像采集：在流水线上的传送带对氧化物LCD模组逐行扫描，通过对移动的氧化物LCD模组将其每一行的像素点逐一捕捉，并将其转换为数字信号；获取氧化物LCD模组的Mark点；得到物体在图像中的尺寸；建立距离参考坐标系；利用该坐标系进行银奖规格的测量和分析；通过测量目标物体上的各个点与坐标系原点的距离和方向，确定这些点的位置以及尺寸；区分银浆涂布区域；涂布规格判定。本发明可快速对银浆涂布后的氧化物LCD模组的银浆规格进行实时检测，有助于提高模组生产线的生产效率、降低生产成本，实现全自动化模组产业。

本发明授权一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法在权利要求书中公布了：1.一种氧化物LCD模组的银浆涂布规格检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S10、图像采集：在流水线上的传送带对氧化物LCD模组逐行扫描，通过对移动的氧化物LCD模组将其每一行的像素点逐一捕捉，并将其转换为数字信号； 步骤S20、基于SIFT的Mark点识别，获取氧化物LCD模组的Mark点； 步骤S30、像素尺寸表征：得到物体在图像中的尺寸； 步骤S40、建立距离参考坐标系：确定了Mark点的中心像素点，将其作为原点，建立X轴和Y轴，并确定坐标轴的方向；建立二维直角坐标系后，利用该坐标系进行银浆规格的测量和分析；通过测量目标物体上的各个点与坐标系原点的距离和方向，来确定这些点的具体位置以及尺寸； 步骤S50、图像处理：区分银浆涂布区域； 步骤S60、银浆涂布规格判定； 所述步骤S20中的基于SIFT的Mark点识别的方法为： 步骤S21、Mark点的特征提取：在Mark点识别中，首先在目标物体的图像和参考图像中提取关键点和描述子，然后通过匹配描述子来确定目标物体在图像中的位置； 步骤S22、关键点匹配：关键点匹配的过程使用最近邻匹配算法，即对于每个关键点，在参考图像中找到与之最接近的关键点，通过比较它们的描述子之间的距离来评估匹配程度；匹配方法是基于最近邻匹配的比率测试，即对于每个关键点，找到其最近邻和次近邻，若最近邻与次近邻之间的距离比小于一个阈值，则认为匹配成功，否则认为匹配失败；距离比计算方法如下： ； 其中，d1是最近邻描述子与当前关键点描述子的距离，d2是次近邻描述子与当前关键点描述子的距离，如果距离比小于一个设定的阈值，则认为匹配成功； 所述步骤S60中银浆涂布规格判定的方法为： S61、计算银浆涂布区域数： 通过开运算和闭运算过滤掉图像中细碎的噪点，然后，通过Opencv中的轮廓查找算法计算银浆的区域数n，最后，对比银浆区域数n和设定的涂布区域数nset进行比较，若n≠nset，则此氧化物LCD模组在银浆涂布时出现断点或者漏涂，所以直接判定不符合规格；反之，则通过此步骤的判定，进入步骤S62； S62：计算银浆涂布的宽和高： 首先，通过遍历算法和排序算法逐一求取每个银浆涂布区域x轴和y轴的极值xmin，xmax，ymin，ymax；计算方法如下： ； 其中，MAX和MIN分别为求极大值和极小值的函数； 然后，通过两个坐标轴的极值求得银浆涂布区域的高和宽的像素个数，最后通过每个像素表征的距离尺寸Spixel计算出银浆的高h和宽w，计算方法如下： ； 最后，将银浆的高h和宽w与银浆涂布高和宽的设定阈值进行比较，若h和w符合公式：的条件，即银浆涂布的规格的高和宽均在阈值区间内，则可以判定银浆涂布的规格符合要求，反之，则不符合要求。

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