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龙图腾网获悉北京环境特性研究所申请的专利一种全波段光学特性测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595249B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411729006.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种全波段光学特性测量系统是由彭月;苏必达;孙腾;范博昭;陈红设计研发完成，并于2024-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种全波段光学特性测量系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种全波段光学特性测量系统。包括：发射装置，包括激光发射单元和可见光发射单元；准直光学装置，包括沿光的传播方向依次设置的积分器和第一准直镜；探测装置，包括探测器、第一镜头和多个衰减片轮；探测器适用于可见光波段和预设范围的激光波段；第一镜头设置在探测器的前端；每个衰减片轮同轴设置在第一镜头的前端；每个衰减片轮上均设置有多个沿其周向均匀分布的圆形卡位，每个卡位分别用于固定不同衰减倍数的衰减片；测量时，根据探测光束的强度，确定满足要求的目标衰减片，以使目标衰减片的轴线与第一镜头的轴线重合，利用第一镜头和探测器测量被测物体的光学特性。本申请能够测量全波段光学特性，测量效率高。

本发明授权一种全波段光学特性测量系统在权利要求书中公布了：1.一种全波段光学特性测量系统，其特征在于，包括： 发射装置1，包括激光发射单元11和可见光发射单元12，所述激光发射单元11用于发射激光，所述可见光发射单元12用于发射可见光； 准直光学装置2，包括沿光的传播方向依次设置的积分器22和第一准直镜23；所述积分器22用于将入射的可见光或激光调整为均匀光束，所述第一准直镜23用于将所述均匀光束反射到被测物体6上； 探测装置3，包括探测器31、第一镜头32和多个衰减片轮33；所述探测器31适用于可见光波段和预设范围的激光波段；所述第一镜头32设置在所述探测器31的前端；每个所述衰减片轮33同轴设置在所述第一镜头32的前端；每个所述衰减片轮33上均设置有多个沿其周向均匀分布的圆形卡位，每个所述卡位分别用于固定不同衰减倍数的衰减片34； 测量时，根据测量要求打开所述激光发射单元11或所述可见光发射单元12，以发射相应的光束；根据光束的强度，确定满足要求的目标衰减片34，并调整每个衰减片轮33的位置，以使所述目标衰减片34的轴线与所述第一镜头32的轴线重合，并利用所述第一镜头32和所述探测器31测量被测物体6的光学特性。

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