航天科工防御技术研究试验中心马博获国家专利权
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龙图腾网获悉航天科工防御技术研究试验中心申请的专利一种通用微波开关测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119667216B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411704655.7，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权一种通用微波开关测试装置及测试方法是由马博设计研发完成，并于2024-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种通用微波开关测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种通用微波开关测试装置及测试方法，测试装置包括：测试底座，用以安装测试PCB板；测试PCB板，所述测试PCB板上设有多条线路，微波开关设在所述测试PCB板上，至少部分所述线路连接微波开关引脚，以对不同引脚数量的微波开关进行测试；本申请中测试PCB板上的线路丰富能够满足多种微波开关的测试需求，从而扩展该微波开关测试装置的适用范围，提高测试效率。
本发明授权一种通用微波开关测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种通用微波开关测试装置，其特征在于，包括： 测试PCB板1，所述测试PCB板1上设有多条线路11，微波开关设在所述测试PCB板1上，至少部分所述线路11连接微波开关引脚，以对不同引脚数量的微波开关进行测试； 测试底座2，用以安装测试PCB板1； 所述线路11包括射频线路、控制线路和供电线路； 所述测试底座2的侧壁上连接有多个SMA接头，用以连接所述测试PCB板1上的射频线路和外部测试设备； 所述测试PCB板1上焊接有多个接线端子，所述控制线路和所述供电线路通过所述接线端子连接外部电源设备； 所述测试PCB板1设有多个边沿，所述射频线路设置有多组，均从所述测试PCB板1的中心位置延伸至所述测试PCB板1的不同边沿，以连接位于相应边沿上的SMA接头，所述控制线路和所述供电线路设置为多条，均从所述测试PCB板1的中心位置延伸至所述测试PCB板1的其中一边沿，以连接相应的所述接线端子，所述控制线路和所述供电线路集中排列设置。
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