清华大学黄松岭获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学申请的专利一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119738470B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411951738.6,技术领域涉及:G01N27/904;该发明授权一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统是由黄松岭;黄璞;于歆杰;彭丽莎;李世松设计研发完成,并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统,本发明的方法包括优化阵列涡流传感器的参数;对待测金属构件进行数据采集,得到不同激励‑接收情况下的涡流响应信号,基于参数水平集重建算法实现缺陷的三维重构;设置离散点源的位置,金属及缺陷的电导率数值,基函数的初始系数参数;将涡流响应信号输入水平集重建算法模型,得到基于参数水平集的缺陷重建目标函数;通过计算雅可比矩阵并采用高斯牛顿法迭代求解该目标函数,进行迭代更新,根据迭代过程前后两次重建结果的偏差是否小于阈值判断缺陷重建是否收敛;得到最终的缺陷成像结果。本发明便于实现,且无须借助机械扫描装置,通过计算成像,可以获取金属构件内表面缺陷信息。
本发明授权一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法,其特征在于,包括: S1,构建阵列涡流传感器,并通过正交试验和响应面法优化阵列涡流传感器的参数; S2,利用优化后的阵列涡流传感器对待测金属构件进行数据采集得到不同激励-接收情况下的涡流响应信号,并采用参数水平集算法对信号进行处理以表征缺陷的三维轮廓; S3,设置描述缺陷的三维轮廓的离散点源的位置、金属电导率数值和缺陷电导率数值以及基函数的初始系数参数; S4,根据描述三维轮廓的离散点源的位置、金属电导率数值和缺陷电导率数值以及基函数的初始系数参数构建水平集重建算法模型,并将涡流响应信号输入至水平集重建算法模型,以得到基于参数水平集的缺陷重建目标函数; S5,通过计算雅可比矩阵并采用高斯牛顿法迭代求解缺陷重建目标函数得到缺陷成像结果,并对基函数系数参数进行迭代更新; S6,重复执行S5,根据迭代过程前后两次缺陷成像结果的偏差是否小于预设阈值,以判断缺陷重建是否收敛; S7,根据收敛的判断结果输出最终的缺陷成像结果,以获取缺陷位置、尺寸和数量信息。
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