崇辉半导体(江门)有限公司郑建国获国家专利权
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龙图腾网获悉崇辉半导体(江门)有限公司申请的专利一种多AOI设备联合检测方法、装置、设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936016B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411972092.X，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种多AOI设备联合检测方法、装置、设备以及存储介质是由郑建国;罗小平;李蓉华设计研发完成，并于2024-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多AOI设备联合检测方法、装置、设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种多AOI设备联合检测方法、装置、设备以及存储介质，所述方法包括在各所述AOI设备的初始检测完成后，获得每个所述AOI设备的初始检测结果；根据每个所述AOI设备的初始检测结果，提取目标检测物的初始缺陷信息；结合每个所述AOI设备的检测参数和所述初始缺陷信息，生成回溯检测参数；基于所述回溯检测参数进行回溯检测，获得回溯检测结果；综合所述初始检测结果和所述回溯检测结果，获得检测结果。本申请具有降低使用多个AOI设备联合检测时的误判概率，提高检测精度的效果。
本发明授权一种多AOI设备联合检测方法、装置、设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种多AOI设备联合检测方法，其特征在于，所述多AOI设备联合检测方法包括： 在各所述AOI设备的初始检测完成后，获得每个所述AOI设备的初始检测结果； 根据每个所述AOI设备的初始检测结果，提取目标检测物的初始缺陷信息； 结合每个所述AOI设备的检测参数和所述初始缺陷信息，生成回溯检测参数；其中，所述结合每个所述AOI设备的检测参数和所述初始缺陷信息，生成回溯检测参数，包括：基于每个所述AOI设备的检测参数，生成每个所述AOI设备的对称检测参数；根据每个所述AOI设备的对称检测参数，判断是否能够检测到所述初始缺陷信息，根据判断结果，生成回溯检测参数； 基于所述回溯检测参数进行回溯检测，获得回溯检测结果； 综合所述初始检测结果和所述回溯检测结果，获得检测结果。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人崇辉半导体(江门)有限公司，其通讯地址为：529040 广东省江门市江海区江睦路168号(信息申报)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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