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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种复杂零件缺陷数据标注方法、缺陷检测方法及多视角多光照数据采集装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064293B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510060769.0，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种复杂零件缺陷数据标注方法、缺陷检测方法及多视角多光照数据采集装置是由沈卫明;程育奇;曹云康;张以恒;孙依晗;谭宇翔;张雨昕设计研发完成，并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种复杂零件缺陷数据标注方法、缺陷检测方法及多视角多光照数据采集装置在说明书摘要公布了：本发明属于缺陷检测领域，并具体公开了一种复杂零件缺陷数据标注方法、缺陷检测方法及多视角多光照数据采集装置，数据采集装置中，由转台提供待测零件的多个视角，光源的设计提供给相机多个光照条件，保证了待测零件完整表面图像的信息获取；对于缺陷数据，为避免人为对图像像素进行标注，提前在缺陷位置进行荧光标记，因此在采集过程中的荧光光照条件下，可以获得清晰的缺陷位置；利用三级缺陷分割方法，获得图像中缺陷位置的高精度像素级掩码信息。本发明可实现复杂零件的多个视角和光照条件下的数据采集，并可对缺陷数据进行自动化标注。

本发明授权一种复杂零件缺陷数据标注方法、缺陷检测方法及多视角多光照数据采集装置在权利要求书中公布了：1.一种采用多视角多光照数据采集装置实现复杂零件缺陷数据标注的方法，其特征在于，所述多视角多光照数据采集装置包括转台、可见光组件、荧光组件和相机，其中：所述转台用于调整待测零件的角度；所述可见光组件用于提供不同可见光光照条件，所述荧光组件用于提供荧光光照条件；所述相机用于在可见光或荧光光照下获取待测零件的图像； 所述方法包括如下步骤： 从不同角度采集待测零件图像，该待测零件的缺陷区域预先进行荧光标记；对每个角度，均采集数张不同可见光光照条件下的可见光图像和一张荧光光照条件下的荧光图像； 对荧光图像进行处理，从中分割出缺陷图像，并将缺陷图像作为对应角度下可见光图像的标签，从而形成缺陷标注数据集，实现缺陷数据标注； 对荧光图像进行处理，从中分割出缺陷图像，包括：采用预训练好的深度学习模型SAM对荧光图像进行粗分割，得到掩码Mask_r，进而得到感兴趣的区域ROI；然后采用二值化方法对ROI进行分割，得到掩码Mask_f；利用图像形态学操作对掩码Mask_f进行微调，得到缺陷图像：对于金属材质，选用腐蚀操作，对于陶瓷材质，选用开运算，对于玻璃和塑料材质，选用闭运算； 采用二值化方法对ROI进行分割，包括：计算ROI中所有像素值的均值，并以该均值作为二值化阈值对ROI进行分割，得到掩码Mask_f。

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