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龙图腾网获悉中国科学院武汉岩土力学研究所申请的专利用于测量岩体在非均匀温度下残余应力的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064345B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510340565.2，技术领域涉及：G01N23/20025；该发明授权用于测量岩体在非均匀温度下残余应力的装置及方法是由陈之祥;胡子尧;万勇;薛强;张彦涛;付晓娟设计研发完成，并于2025-03-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于测量岩体在非均匀温度下残余应力的装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于测量岩体在非均匀温度下残余应力的装置及方法，包括样品池、加热控温系统和X射线衍射仪系统；样品池包括样品池上底座和样品池下底座，待检测的岩体样品放置于样品池上底座内；加热控温系统包括热电偶、加热元件和PID温控仪；通过加热控温系统改变X射线衍射测试过程中的非均匀温度演变过程、模拟真实工况下岩体所处的非均匀温度环境，通过X射线衍射仪对非均匀温度条件下岩体进行原位测试，利用同倾法测试收集岩体在每个同倾角ψ的衍射峰数据，进而确定不同温度下岩体的残余应力演变过程；同时，可通过加热控温系统对岩体样品去应力退火处理，研究不同的非均匀温度场下经过去应力退火处理后残余应力的变化情况。

本发明授权用于测量岩体在非均匀温度下残余应力的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于测量岩体在非均匀温度下残余应力的装置，其特征在于，包括样品池、加热控温系统和X射线衍射仪系统； 所述样品池包括样品池上底座和样品池下底座，待检测的岩体样品放置于样品池上底座内；所述加热控温系统包括热电偶、加热元件和PID温控仪；所述样品池上底座沿某一径向布置三个所述热电偶，分别为I热电偶、II热电偶和III热电偶，I热电偶和III热电偶分别位于两端，II热电偶位于I热电偶和III热电偶的中点位置，用于测量样品池不同位置处的温度，各热电偶分别与所述PID温控仪电连接，以将测量的温度信号传输至所述PID温控仪；所述样品池上底座和样品池下底座之间布置两个电阻率不同的加热元件，分别为I加热元件和II加热元件，I加热元件布置于所述I热电偶和II热电偶中间，II加热元件布置于所述II热电偶和III热电偶中间，各加热元件分别与所述PID温控仪电连接；所述PID温控仪将所述热电偶测量的实际温度与预设温度进行对比，通过控制加热元件的通电时间使得实际温度逼近预设温度，进而实现非均匀温度的控制； 所述X射线衍射仪系统包括X射线发射器、X射线检测器、X射线衍射样品台和X射线衍射仪控制系统；所述样品池置于所述X射线衍射样品台上，所述X射线发射器和X射线检测器位于所述样品池上方并分别与X射线衍射仪控制系统信号连接，所述X射线检测器接收X射线发射器射入样品后发生衍射的射线强度及衍射角θ信号，并传输至X射线衍射仪控制系统，X射线衍射仪控制系统能够改变样品受测面与X射线发射器发射的同倾角角度ψ。

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