广东省广新材智科技有限公司刘鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉广东省广新材智科技有限公司申请的专利一种多层共挤膜的分层厚度实时检测方法及检测系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120445057B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510568210.9,技术领域涉及:G01B11/06;该发明授权一种多层共挤膜的分层厚度实时检测方法及检测系统是由刘鹏;吴启浩;李勇;唐峰;林剑雄;孙文岳;林燕;安冉设计研发完成,并于2025-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多层共挤膜的分层厚度实时检测方法及检测系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种多层共挤膜的分层厚度实时检测方法及检测系统。所述分层厚度实时检测方法包括步骤:1在目标层原料中加入红外光谱响应剂,测定目标层原料的密度,设定目标层原料的挤出量、多层共挤膜的宽度和生产线速度;2使用X射线测厚仪连续测量多层共挤膜的总厚度,获得的平均值;使用红外测厚仪连续测量多层共挤膜的总厚度,获得的平均值;3获取红外光谱响应剂对目标层测量数值的修正值A;4使用X射线测厚仪测量多层共挤膜的总厚度实时数值,使用红外测厚仪测量多层共挤膜的总厚度实时数值,从而获得目标层厚度的实时数值TA。
本发明授权一种多层共挤膜的分层厚度实时检测方法及检测系统在权利要求书中公布了:1.一种多层共挤膜的分层厚度实时检测方法,其特征在于,包括步骤: 1在目标层原料中加入红外光谱响应剂,测定目标层原料的密度为ρ,设定目标层原料的挤出量为Q、多层共挤膜的宽度为k和生产线速度为s; 2使用X射线测厚仪连续测量多层共挤膜的总厚度,获得的平均值为Tx平均;使用红外测厚仪通过滤光片连续测量特定波长下多层共挤膜的总厚度,获得的平均值为T1平均; 3获取红外光谱响应剂对目标层测量数值的修正值A, A=Qρ×k×s-T1平均-Tx平均; 4使用X射线测厚仪测量多层共挤膜的总厚度实时数值Tx实时,使用红外测厚仪测量多层共挤膜的总厚度实时数值T1实时,获得目标层厚度的实时数值TA,当T1实时-Tx实时>Qρ×k×s时, TA=T1实时-Tx实时-A; 当T1实时-Tx实时<Qρ×k×s时, TA=T1实时-Tx实时+A。
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