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龙图腾网获悉合肥维信诺科技有限公司申请的专利显示面板参数的测量方法、质量监测方法和显示面板获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120583843B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511028771.6，技术领域涉及：H10K59/121；该发明授权显示面板参数的测量方法、质量监测方法和显示面板是由何伟设计研发完成，并于2025-07-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本显示面板参数的测量方法、质量监测方法和显示面板在说明书摘要公布了：本申请实施例提供的一种显示面板参数的测量方法、质量监测方法和显示面板，该参数的测量方法包括：提供背板，背板包括基板和像素界定层，像素界定层叠置在基板的一侧；在像素界定层上形成隔离结构，隔离结构围合形成多个隔离开口和至少一个观察开口，隔离结构包括被隔离开口贯穿第一结构层、第二结构层、第三结构层，观察开口贯穿第三结构层，隔离开口对应于第一结构层的下表面处形成有下边缘，隔离开口对应于第三结构层下表面处形成有第一边缘，观察开口对应的区域内包括对应的下边缘的部分区段；借助观察开口获取第一边缘和下边缘之间沿平行于基板的方向的第一距离。

本发明授权显示面板参数的测量方法、质量监测方法和显示面板在权利要求书中公布了：1.一种显示面板参数的测量方法，其特征在于，该测量方法包括： 提供背板，所述背板包括基板41和像素界定层42，所述像素界定层42叠置在所述基板41的一侧； 在所述像素界定层42上形成隔离结构，所述隔离结构50围合形成多个隔离开口501和至少一个观察开口503，所述隔离结构50包括沿背离所述基板41的方向叠置的第一结构层51、第二结构层52、第三结构层53，所述隔离开口501贯穿所述第一结构层51、第二结构层52和第三结构层53，所述观察开口503贯穿所述第三结构层53，其中，所述隔离开口501的对应于所述第二结构层52处的侧壁在远离所述基板的方向上向外倾斜，所述第一结构层51沿平行于所述基板41的方向X朝向所述隔离开口延伸且凸出于所述第二结构层52的暴露于所述隔离开口中的侧壁，所述第三结构层53沿平行于所述基板41的方向X朝向所述隔离开口延伸且凸出于所述第二结构层52的暴露于所述隔离开口中的侧壁，所述隔离开口501对应于所述第一结构层51的下表面处形成有下边缘LX，所述隔离开口501对应于所述第三结构层53下表面处形成有第一边缘LA，所述观察开口503对应的区域内包括对应的所述下边缘LX的部分区段； 借助所述观察开口503获取所述第一边缘LA和所述下边缘LX之间沿平行于所述基板41的方向X的第一距离SA。

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