湖南先进技术研究院;中国人民解放军国防科技大学戴一帆获国家专利权
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龙图腾网获悉湖南先进技术研究院;中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种半球谐振子三维质量修整系统与方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120831134B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511331505.0,技术领域涉及:G01C25/00;该发明授权一种半球谐振子三维质量修整系统与方法是由戴一帆;彭小强;关朝亮;胡皓;陈善勇;王瑜设计研发完成,并于2025-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半球谐振子三维质量修整系统与方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种半球谐振子三维质量修整系统与方法,测量半球谐振子的球面厚度误差数据并对球面厚度误差数据分解出谐波厚度误差之后,选取离子束束径并获取对应去除函数,对谐波厚度误差数据进行与去除函数直径等值的边缘延拓得到厚度误差矩阵,将去除函数维度拓展至与厚度误差矩阵相同维度得到材料去除矩阵,根据去除函数的入射角修正厚度误差矩阵,根据修正后的厚度误差矩阵与材料去除矩阵求解驻留时间,然后根据驻留时间进行路径规划并生成加工G代码,最后使用加工G代码对半球谐振子进行加工。本发明提供谐振子球面环域厚度误差的高效修整方法,解决传统方法根据性能测试反馈质量修调时耦合振动难以解耦,三维质量误差分布无法辨识的问题。
本发明授权一种半球谐振子三维质量修整系统与方法在权利要求书中公布了:1.一种半球谐振子三维质量修整方法,其特征在于,包括以下步骤: S101测量半球谐振子的球面厚度误差数据并对球面厚度误差数据分解出1-4次谐波厚度误差,得到厚度误差矩阵; S102选取离子束束径并获取对应的去除函数,对厚度误差矩阵进行与去除函数直径等值的边缘延拓,并且将去除函数维度拓展至与延拓后的厚度误差矩阵相同维度,得到材料去除矩阵,选取离子束束径并获取对应的去除函数时,具体是选择满足指定材料去除有效率的离子束束径,对与半球谐振子等直径同材料的工件进行离子束加工并获取对应去除函数,离子束束径与材料去除有效率之间的关系如下式: 其中,表示1-4次谐波厚度误差的材料去除有效率,表示去除函数对应的离子束束径,表示半球谐振子的直径; S103根据去除函数的入射角修正延拓后的厚度误差矩阵,根据修正后的厚度误差矩阵与材料去除矩阵求解驻留时间,然后根据驻留时间进行路径规划并生成加工G代码,最后使用加工G代码对半球谐振子进行加工,进行路径规划时,选用以半球谐振子的支撑杆为旋转轴的单向螺旋进给轨迹,使得离子束轴线与谐振子回转轴线在空间中垂直并相交,使用加工G代码对半球谐振子进行加工时,具体是操作机床按照加工G代码包含的离子束每个驻留点的位置与速度进行X轴、Z轴和C轴的三轴联动加工,三轴联动加工时,通过Z轴保证离子束靶距固定,通过X轴保证半球谐振子加工轴向范围,通过C轴保证半球谐振子加工周向范围与加工速度; S104再次测量半球谐振子的球面厚度误差数据并对球面厚度误差数据分解出1-4次谐波厚度误差,若1-4次谐波厚度误差满足要求则修整结束,若1-4次谐波厚度误差不满足要求,跳转执行步骤S102直到谐波厚度误差满足要求。
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