浙江双元科技股份有限公司荣振威获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江双元科技股份有限公司申请的专利一种基于线扫成像的2.5D缺陷检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120831360B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511331856.1，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种基于线扫成像的2.5D缺陷检测方法及装置是由荣振威;陈文君;韦云声;唐玉辉;胡美琴设计研发完成，并于2025-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于线扫成像的2.5D缺陷检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于线扫成像的2.5D缺陷检测方法及装置，方法包括：采集线扫图像，其中，线扫图像为线扫相机拍摄被线扫光源矩阵照射的待测工件，线扫光源矩阵中的光源用于投射余弦光；基于线扫光源矩阵的排列，将线扫图像拆分为多个相位图；将相位图进行对齐解算，得到多个效果图；根据预设的模板图，分析模板图和效果图的特征对应关系，将效果图中的伪影去除，得到标准效果图；对标准效果图中的缺陷特征进行对比分类，得到缺陷结果，完成缺陷检测。通过将线扫光源矩阵的设置和线扫图像的分析处理融合，给出了全流程的解决方案，使用2.5D进行缺陷检测，在保证稳定性的同时，适用于连续生产的场景，提高工业上缺陷检测的准确性。
本发明授权一种基于线扫成像的2.5D缺陷检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于线扫成像的2.5D缺陷检测方法，其特征在于，包括： 采集线扫图像，其中，线扫图像为线扫相机拍摄被线扫光源矩阵照射的待测工件，线扫光源矩阵中的光源用于投射余弦光； 基于线扫光源矩阵的排列，将线扫图像拆分为多个相位图； 将相位图进行对齐解算，得到多个效果图； 根据预设的模板图，分析模板图和效果图的特征对应关系，将效果图中的伪影去除，得到标准效果图，其中，所述伪影去除包括基于模板特征和效果特征的对应关系，将效果图与模板图对齐，得到对齐效果图；结合模板图中的梯度特征，将对齐效果图中的伪影过滤； 对标准效果图中的缺陷特征进行对比分类，得到缺陷结果，完成缺陷检测。
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