苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司王俊获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司申请的专利一种基于多视向断面图像的三维重构方法和制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120852676B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511324100.4,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权一种基于多视向断面图像的三维重构方法和制备方法是由王俊;李龙基;肖垚;孙正明;张燕;李刘晶;赵武;孙方圆;宋木;罗晨设计研发完成,并于2025-09-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于多视向断面图像的三维重构方法和制备方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于多视向断面图像的三维重构方法和制备方法,三维重构方法包括:获取被第一解理面解理的一排待检测口的第一图像,获取被第二解理面解理的一排待检测口的第二图像;获取第一子图像沿第五方向的第一投影线和第二子图像沿第六方向的第二投影线;获取第一线条图和第二线条图;根据第一线条图获取第一轮廓封闭图,根据第二线条图获取第二轮廓封闭图;当第一轮廓封闭图和第二轮廓封闭图的相似度达到第一上限值时,将第一轮廓封闭图作为第一特征轮廓图,将第二轮廓封闭图作为第二特征轮廓图;进行匹配处理,使第一特征轮廓图和第二特征轮廓图的重叠面积达到第二上限值;根据相对位置变化量、第一三维图和第二三维图获取测试三维图。
本发明授权一种基于多视向断面图像的三维重构方法和制备方法在权利要求书中公布了:1.一种基于多视向断面图像的三维重构方法,其特征在于,包括: 形成待测结构,待测结构包括沿第一方向和第二方向阵列排布的多个待检测口; 获取被第一解理面解理的一排待检测口的第一图像,第一图像包括多个沿第三方向依次间隔排布的第一子图像;获取被第二解理面解理的一排待检测口的第二图像,第二图像包括多个沿第四方向依次间隔排布的第二子图像;第二解理面垂直于第一解理面; 基于第一图像中多个第一子图像的中心获取每个第一子图像的第一锚定点,基于第二图像中多个第二子图像的中心获取每个第二子图像的第二锚定点; 获取第一子图像沿第五方向的第一投影线,第五方向平行于第一子图像且垂直于第三方向,第一锚定点在第一投影线的投影为第一锚定投影点;获取第二子图像沿第六方向的第二投影线,第六方向平行于第二子图像且垂直于第四方向,第二锚定点在第二投影线的投影为第二锚定投影点; 获取多个第一线条图和多个第二线条图;其中,第一线条图中的多个第一投影线等间距依次排布,多个第一投影线的第一锚定投影点的连线为直线且与第一投影线相交;第二线条图中的多个第二投影线等间距依次排布,多个第二投影线的第二锚定投影点的连线为直线且与第二投影线相交,第二投影线垂直于第一投影线; 根据第一线条图获取第一轮廓封闭图,根据第二线条图获取第二轮廓封闭图; 当第一轮廓封闭图和第二轮廓封闭图的相似度达到第一上限值时,将第一轮廓封闭图作为第一特征轮廓图,将第二轮廓封闭图作为第二特征轮廓图; 将第一特征轮廓图和第二特征轮廓图进行匹配处理,使第一特征轮廓图和第二特征轮廓图的重叠面积达到第二上限值; 获取第一特征轮廓图和第二特征轮廓图在进行匹配处理之后相对于进行匹配处理之前的相对位置变化量; 根据第一子图像、以及第一特征轮廓图对应的第一线条图获取第一三维图,根据第二子图像、以及第二特征轮廓图对应的第二线条图获取第二三维图;以及 根据相对位置变化量、所述第一三维图和所述第二三维图获取测试三维图。
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