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龙图腾网获悉珠海博杰电子股份有限公司申请的专利缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120877287B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511374441.2，技术领域涉及：G06V20/70；该发明授权缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质是由周青松;肖高博;杨智慧;李晓刚设计研发完成，并于2025-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开一种缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质，包括获取目标图像、目标掩膜图像以及包含多张样本图像的缺陷图像训练集，目标掩膜图像是基于目标语义分割模型对目标图像进行缺陷分割得到的图像；标注多张样本图像的缺陷轮廓及掩膜转换，得到初始掩膜图像；基于形态学操作对初始掩膜图像进行膨胀处理，得到膨胀掩膜图像；基于多张样本图像及初始掩膜图像和膨胀掩膜图像进行模型训练，得到分割优化模型；基于分割优化模型和目标图像优化目标掩膜图，并将一次优化掩膜图像与目标掩膜图像进行张量点乘处理，得到二次优化掩膜图像。本发明能够改善现有语义分割模型的分割结果并确保优化后的缺陷特征的面积不大于现有模型预测的面积。

本发明授权缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测优化方法，其特征在于，包括： 获取目标图像、目标掩膜图像以及包含多张样本图像的缺陷图像训练集，所述目标掩膜图像是基于目标语义分割模型对所述目标图像进行缺陷分割得到的图像； 对所述多张样本图像的缺陷轮廓进行标注并进行掩膜转换，得到对应的初始掩膜图像； 基于形态学操作对所述初始掩膜图像进行膨胀处理，得到膨胀掩膜图像； 基于所述多张样本图像及对应的所述初始掩膜图像和所述膨胀掩膜图像进行模型训练，得到分割优化模型； 将所述目标图像和所述目标掩膜图像输入至完成训练的所述分割优化模型进行前向推理，并将优化得到的一次优化掩膜图像与所述目标掩膜图像进行张量点乘处理，得到二次优化掩膜图像； 其中，所述基于所述多张样本图像及对应的所述初始掩膜图像和所述膨胀掩膜图像进行模型训练，得到分割优化模型，包括： 基于第一卷积块对每张所述样本图像进行特征提取，得到第一特征图； 基于第二卷积块对所述第一特征图和所述膨胀掩膜图像进行特征提取，得到第二特征图； 基于第三卷积块对所述第二特征图和所述初始掩膜图像进行特征提取，得到第三特征图； 基于第四卷积块对所述第三特征图进行二分类以完成模型训练，得到分割优化模型。

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