武汉光谷信息光电子创新中心有限公司陈政欢获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉光谷信息光电子创新中心有限公司申请的专利一种光电探测芯片的测试系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113865827B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111043119.3,技术领域涉及:G01M11/00;该发明授权一种光电探测芯片的测试系统及方法是由陈政欢;肖希;王磊;冯朋;熊雨洁设计研发完成,并于2021-09-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光电探测芯片的测试系统及方法在说明书摘要公布了:本发明公开一种光电探测芯片的测试系统及方法。系统包括光源组件、电源组件、光纤组件、转换组件,耦合组件和测试组件,光源组件用于提供测试光信号;电源组件为待测光电探测芯片提供偏置电压;光纤组件用于接收测试光信号,将测试光信号向待测光电探测芯片传输;转换组件用于接收待测光电探测芯片输出的光电流信号,将光电流信号转换成电压信号,将电压信号提供给耦合组件;耦合组件用于基于转换组件提供的所述电压信号控制光纤组件移动,以使待测光电探测芯片耦合到最多的测试光信号;所述测试组件用于在待测光电探测芯片耦合到最多的测试光信号的情况下,测试待测光电探测芯片的性能。
本发明授权一种光电探测芯片的测试系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种光电探测芯片的测试系统,其特征在于,所述系统包括光源组件、电源组件、偏振控制器、光纤组件、转换组件、耦合组件和测试组件,其中; 所述光源组件,用于提供测试光信号; 所述电源组件为待测光电探测芯片提供偏置电压; 所述偏振控制器,用于使所述测试光信号满足偏振条件,所述偏振条件为光功率最大; 所述光纤组件,所述光纤组件包括为保偏光纤的第一光纤,所述第一光纤的一端与所述光源组件连接,用于接收所述测试光信号,所述第一光纤的另一端与所述偏振控制器连接,用于将所述测试光信号传输到所述偏振控制器; 所述光纤组件还包括第二光纤,所述第二光纤的一端与所述偏振控制器连接;用于接收所述偏振控制器输出的满足偏振条件的所述测试光信号,向所述待测光电探测芯片传输所述测试光信号; 所述转换组件,用于接收所述待测光电探测芯片输出的光电流信号,将所述光电流信号转换成电压信号,将所述电压信号提供给所述耦合组件;所述光电流信号为所述待测光电探测芯片基于接收到的所述测试光信号和所述偏置电压获得; 所述耦合组件,用于基于所述转换组件提供的所述电压信号控制所述第一光纤的另一端移动,以使所述待测光电探测芯片耦合到所述第一光纤传输的最多的所述测试光信号;还用于:在调整所述偏振控制器前,基于所述转换组件提供的第一电压信号控制所述第二光纤的另一端移动,以使所述待测光电探测芯片耦合到所述第二光纤传输的最多的未通过所述偏振控制器调整的所述测试光信号;以及在调整所述偏振控制器后,基于所述转换组件提供的第二电压信号控制所述第二光纤的另一端移动,以使所述待测光电探测芯片耦合到所述第二光纤传输的最多的满足偏振条件的所述测试光信号; 其中,所述第一电压信号为所述转换组件基于第一光电流信号获得;所述第二电压信号为所述转换组件基于第二光电流信号获得;所述第一光电流为所述待测光电探测芯片基于未通过所述偏振控制器调整的所述测试光信号输出的电流信号;所述第二光电流为所述待测光电探测芯片基于满足偏振条件的所述测试光信号输出的电流信号; 所述测试组件,用于在所述待测光电探测芯片耦合到最多的所述测试光信号的情况下,测试所述待测光电探测芯片的性能。
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