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龙图腾网获悉苏州电器科学研究院股份有限公司申请的专利高低温环境电磁兼容测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114636879B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210236873.7，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权高低温环境电磁兼容测试方法是由胡醇;胡德霖;杨支峰;沈惊喜;丁卫营;潘晓军;陈仁治;钱永江设计研发完成，并于2022-03-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本高低温环境电磁兼容测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种高低温环境电磁兼容测试方法，包括以下步骤：S1：将待测试设备放置于电波暗室的环境模拟装置内；S2：系统控制器控制环境模拟装置将其内部密封腔的温度调节至待测温度；S3：系统控制器控制电磁测试装置开启，电磁测试装置对设备进行EMC测试，并将EMC测试值保存于数据库内；S4：重复S2‑S3，直至待测试设备在所有的待测温度下均进行了EMC测试。本发明采用在电波暗室内设置环境模拟装置的方式进行高低温测试，不破坏原有的电波暗室，不会降低电波暗室的使用寿命和原有的测试可行性。采用本发明的高低温环境电磁兼容综合试验系统对上述设备在高低温环境下进行EMC测试，更全面的对设备的抗干扰性能进行试验。

本发明授权高低温环境电磁兼容测试方法在权利要求书中公布了：1.高低温环境电磁兼容测试方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：将待测试设备放置于电波暗室的环境模拟装置内，N个待测温度T1,T2,T3…,TN保存在第一次测试表格中，第一次测试表格保存于数据库内； S2：系统控制器控制环境模拟装置将其内部密封腔的温度调节至待测温度； S3：系统控制器控制电磁测试装置开启，电磁测试装置对设备进行EMC测试，并将EMC测试值保存于数据库内； S4：重复S2-S3，直至待测试设备在所有的待测温度下均进行了EMC测试； S5：按照T1至TN的顺序，将得到的N个EMC测试值E1,E2,E3…,EN依次保存在第一次测试表格中，N个EMC测试值与N个待测温度一一对应； S6：将每组邻近的k个EMC测试值取平均值，得到N-k+1个平均值V1,V2,V3…,VN-k+1，寻找最小平均值Vmin和最大平均值Vmax，并找到对应最小平均值Vmin的k个温度值和对应最大平均值Vmax的k个温度值； S7：取对应最小平均值Vmin的k个温度值中的最大值和最小值，形成第一测温区间； 取对应最大平均值Vmax的k个温度值中的最大值和最小值，形成第二测温区间； S8：将第一测温区间进行均分，得到M1个待测温度P1,P2,P3…,PM1，M1＞k； 将第二测温区间进行均分，得到M2个待测温度Q1,Q2,Q3…,QM2，M2＞k； S9：重复S2-S3，直至待测试设备在M1个待测温度P1,P2,P3…,PM1和M2个待测温度Q1,Q2,Q3…,QM2下均进行了EMC测试，并将EMC测试值一一对应保存于第二次测试表格中，第二次测试表格保存于数据库内。

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