长鑫存储技术有限公司王坤获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种夹具及封装颗粒失效点的定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115763285B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111031408.1，技术领域涉及：H01L21/66；该发明授权一种夹具及封装颗粒失效点的定位方法是由王坤设计研发完成，并于2021-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种夹具及封装颗粒失效点的定位方法在说明书摘要公布了：本公开提供了一种夹具及封装颗粒失效点的定位方法，属于集成电路封装技术领域。该夹具包括托盘和挡盖。其中，托盘可以具有多个调节件。挡盖可以具有多个定位点，多个定位点均匀设置于挡盖。当挡盖与托盘配合时，通过移动多个调节件使得封装颗粒的失效点与挡盖上的一个定位点相匹配。这样能够在不破坏封装颗粒表面的前提下，在封装颗粒表面定位到所需要分析的失效点，进而能够对失效点进行电性失效分析。
本发明授权一种夹具及封装颗粒失效点的定位方法在权利要求书中公布了：1.一种夹具，用于封装颗粒失效点的定位，其特征在于，所述夹具包括： 托盘，具有多个调节件； 容置槽，开设于所述托盘内部，所述容置槽用于安置所述封装颗粒； 挡盖，具有多个定位点，多个所述定位点均匀设置于所述挡盖； 当所述挡盖与所述托盘配合时，通过移动多个所述调节件使得所述封装颗粒的失效点与所述挡盖上的一个所述定位点相匹配。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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