长鑫存储技术有限公司杨伟获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利存储器测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115862719B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111121715.9，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权存储器测试方法、装置、设备及存储介质是由杨伟设计研发完成，并于2021-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供一种存储器测试方法、装置、设备及存储介质，涉及存储器技术领域。该方法包括：执行进入自刷新命令，以使待测试存储器进入自刷新状态；执行离开自刷新命令，以使待测试存储器离开自刷新状态；运行预选模块对应的测试程序，以对待测试存储器的为预选模块分配的地址段进行测试；读取待测试存储器的空间中未分配地址段上的数据，以对待测试存储器的未分配地址段进行测试；在判定不满足测试结束条件时，返回执行进入自刷新命令的步骤，以对待测试存储器进行测试。该方法提高了存储器测试的效率。
本发明授权存储器测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括： 执行进入自刷新命令，以使待测试存储器进入自刷新状态； 执行离开自刷新命令，以使所述待测试存储器离开所述自刷新状态； 运行预选模块对应的测试程序，以对所述待测试存储器的为所述预选模块分配的地址段进行测试； 读取所述待测试存储器的空间中未分配地址段上的数据，以对所述待测试存储器的未分配地址段进行测试； 在判定不满足测试结束条件时，返回所述执行进入自刷新命令的步骤，以对所述待测试存储器进行测试。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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