长鑫存储技术有限公司连军委获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利内存测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115981944B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310004896.X，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权内存测试方法、装置、设备及存储介质是由连军委设计研发完成，并于2023-01-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本内存测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种内存测试方法、装置、设备及存储介质，涉及内存测试技术领域。该方法包括获取多个无交集的内存测试单元；利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对各个内存测试单元的测试时间；根据各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为各个内核匹配内存测试单元组，以基于内核与内存测试单元组的匹配关系对内存进行测试，其中，任意两个内核对应的内存测试单元组的测试时间的差值在预设时间范围内，且任意两个内存测试单元组无交集。本公开提供的内存测试方法、装置、设备及存储介质，在无操作系统的情况下，将内存绑定内核，提高测试效率。
本发明授权内存测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种内存测试方法，其特征在于，包括： 获取多个无交集的内存测试单元； 利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对所述各个内存测试单元的测试时间； 根据所述各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为所述各个内核匹配内存测试单元组，以基于所述内核与所述内存测试单元组的匹配关系对所述内存进行测试，其中，任意两个内核对应的内存测试单元组的测试时间的差值在预设时间范围内，且任意两个所述内存测试单元组无交集。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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